자동 높은 지점 버튼
현재 작업 면에서 가장 높은 지점을 찾기 위해 사용자 정의된 검색 영역을 검색하기 위해 높은 지점 자동 옵션은 사용한다. 이것은 가장 높은 지점의 영역을 검색한다. 그것은 측정 루틴에서 기존의 지점을 검색하지 않는다.
높은 지점 만들기의 예 보기:
이 비디오를 보기 위해 인터넷과 연결되어 있어야 한다. 
높은 지점 실행의 예 보기:
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검색 결과는 그것의 X, Y, 그리고 Z 좌표와 접근 벡터에 의해 정의된 단독 지점이다.
높은 지점 옵션을 사용하기 위해, 높은 지점 (삽입 | 특성 | 자동 | 지점 | 높은) 을 위한 자동 특성 대화상자를 사용한다.
자동 특성 대화상자 - 높은 지점
대화상자가 열린 상태로, 특성을 만들기 위해 다음의 방법중 하나를 사용한다.
화면의 표면 데이타 사용
표면 데이타를 사용해서 높은 지점 검색 영역을 정의하기 위해:
(표면에서) 시작 지점의 원하는 위치를 나타내기 위해 그래픽 디스플레이 창에 마우스 포인터를 배치한다.
검색 영역의 중앙과 시작 지점을 정의하기 위해 한번 클릭한다. PC-DMIS 는 선택된 표면을 하이라이트 한다.
시작 지점을 정의하기 위해 다시 클릭한다. 대화상자가 열려 있는 한, 부품 모델의 표면에서 모든 홀수의 클릭은 클릭된 위치와 같게 되도록 중앙과 시작 지점을 정의한다. 모든 짝수의 클릭은 새 시작 지점 위치만을 정의한다.
정확한 표면이 선택되었는지 확인한다. PC-DMIS 는 하이라이트된 표면위에 선택된 지점의위치와 벡터를 보여준다. 표면 법선 벡터의 방향은 프로브에 의해 사용가능한 부품의 면에 의해 결정된다. 부품의 양쪽면을 동일하게 사용할 수 있다면, CAD 데이타의 법선이 사용된다. 대화상자의 벡터 뒤집기 아이콘(
)은 접근의 방향을 변경할 수 있게 한다.
측정 속성 영역의 모드 목록으로부터 원 또는 상자를 선택해서 사용할 검색 지역의 유형을 선택한다.
상자 유형 검색 영역의 너비와 길이 상자의 값을 또는 원의 유형 검색 영역의 내부 반지름과 외부 반지름 상자의 값을 변경해서 검색 영역의 크기를 정의한다. PC-DMIS 는 하이라이트 컬러로 검색 영역을 보여준다.
대화상자에 필요한 다른 변경을 한다.
측정 루틴에 특성을 삽입하기 위해 만들기 를 클릭한다. 측정 루틴을 실행할때, PC-DMIS 는 정의된 검색 영역내에서 가장 높은 지점을 검색한다음 반환한다.
CMM 을 사용해서 표면 데이타를 사용
CMM 으로 높은 지점의 검색 영역을 정의하기 위해:
프로브를 사용해서 부품에서 원하는 표면을 한번 접촉한다. 이것은 검색 영역의중심과 시작 지점 양쪽 모두를 동일한 것으로 정의할 것이다.
다른 검색 중앙을 원하면, 프로브로 원하는 표면을 한번 더 접촉한다. 이것은 검색 영역의 새로운 중앙을 정의한다. 또다른 지점이 프로브로 샘플 접촉되면, 그것은 시작 지점과 접근 벡터의 위치를 변경한다. 연속 수행된 각 샘플 접촉은 검색 중앙과 시작 지점을 교대한다. 프로브가 부품의 표면을 샘플 접촉할때마다, PC-DMIS 는 프로브가 접촉한 곳과 가장 가까운 CAD 표면을 관통한다. 표면 모델에서 만들어진 이 정보는 시작 지점과 검색 중앙을 정의하기 위해 사용된다.
측정 속성 영역의 모드 목록으로부터 원 또는 상자를 선택해서 사용할 검색 지역의 유형을 선택한다.
상자 유형 검색 영역의 너비와 길이 상자의 값을 또는 원의 유형 검색 영역의 내부 반지름과 외부 반지름 상자의 값을 변경해서 검색 영역의 크기를 정의한다. PC-DMIS 는 하이라이트 컬러로 검색 영역을 보여준다.
대화상자에 필요한 다른 변경을 한다.
측정 루틴에 특성을 삽입하기 위해 만들기 를 클릭한다. 측정 루틴을 실행할때, PC-DMIS 는 정의된 검색 영역내에서 가장 높은 지점을 검색한다음 반환한다.
이론상의 값 찾기 옵션을 이 측정 방법을 위한 모드 목록에서 선택해야 한다. 이론상의 값에 관한 상세 정보는, PC-DMIS 핵심 문서에서 "모드 목록" 항목을 본다.
CAD 데이타 사용 없이
높은 지점의 검색 영역이 CAD 데이타의 사용없이 만들어지려면, 수행되는 첫 접촉은 시작 지점과 검색 중앙의 X, Y, 그리고 Z 의 이론상의 값을 나타낸다. PC-DMIS 는 또한 그 접촉의 I, J, K 접근 벡터를 보여준다. 이 값은 CMM 접근 벡터의 반대 방향을 나타낸다(표면의 반대 방향을 향한다). 새로운 시작 지점을 정의하기 위해, 원하는 중앙 지점 위치에서 프로브를 사용해서 표면을 접촉을 수행한다. 연속 샘플 접촉은 시작 지점과 검색 중앙을 교대한다.
측정 속성 영역의 모드 목록으로부터 원 또는 상자를 선택해서 사용할 검색 지역의 유형을 선택한다.
상자 유형 검색 영역의 너비와 길이 상자의 값을 또는 원의 유형 검색 영역의 내부 반지름과 외부 반지름 상자의 값을 변경해서 검색 영역의 크기를 정의한다. PC-DMIS 는 하이라이트 컬러로 검색 영역을 보여준다.
대화상자에 필요한 다른 변경을 한다.
측정 루틴에 특성을 삽입하기 위해 만들기 를 클릭한다. 측정 루틴을 실행할때, PC-DMIS 는 정의된 검색 영역내에서 가장 높은 지점을 검색한다음 반환한다.
데이타 입력
이 방법은 X, Y, 그리고 Z 값을 제공해서 높은 지점의 검색 영역의 중심 (즉, 상자의 중간 또는 원 또는 원들의 중심)을 입력할 수 있게 한다. 또한, X, Y, Z, I, J,그리고 K 값을 입력해서 시작 지점과 관련된 접근 벡터를 정의할 수 있게 한다.
특성을 위해 원하는 X, Y, Z, I, J, 그리고 K 값을 대화상자에 입력한다.
측정 속성 영역의 모드 목록으로부터 원 또는 상자를 선택해서 사용할 검색 지역의 유형을 선택한다.
상자 유형 검색 영역의 너비와 길이 상자의 값을 또는 원의 유형 검색 영역의 내부 반지름과 외부 반지름 상자의 값을 변경해서 검색 영역의 크기를 정의한다. PC-DMIS 는 하이라이트 컬러로 검색 영역을 보여준다.
대화상자에 필요한 다른 변경을 한다.
측정 루틴에 특성을 삽입하기 위해 만들기 를 클릭한다. 측정 루틴을 실행할때, PC-DMIS 는 정의된 검색 영역내에서 가장 높은 지점을 검색한다음 반환한다.
높은 지점 실행 세부 사항: