透過將校對環規或類似尺寸的塞上的掃描與位於 CMM 上同一位置的掃描進行對比，標準塊掃描篩選器可用於以最高精度測量圓和圓柱的形狀。您可使用此篩選器測量生產環和生產塞以及工件上形狀公差非常小的圓形特徵。
自動圓的標準塊掃描校準策略校準與標準塊掃描篩選器一起使用的測頭測尖。標準塊掃描校準資料儲存在測頭檔案中。自適應圓掃描和自適應圓柱同心圓掃描策略提供標準塊掃描篩選器。
若再次校準測頭測尖，PC-DMIS 將檢測標準塊掃描校準資料。將需要再次執行標準塊掃描校準。
量規掃描篩選器選項位於編輯測頭資料對話方塊（插入 | 硬體定義 | 測頭 | 編輯按鈕）。每個測頭測尖的的量規掃描篩選器選項指示計量掃描校準資料是否可用。有關此選項的資訊，請參見概要：簡介 PC-DMIS 核心文檔中「定義硬體」一章中的「量規掃描篩選器」。
為獲得最佳結果：
使用標準塊掃描校準來校準帶環規的測頭測尖，以準確測量內孔。
使用標準塊掃描校準來校準帶塞規的測頭測尖，以準確測量外孔。
使用標準塊掃描校準來校準使用環規或塞規（直徑儘量接近需要準確檢查的工件）的測頭測尖。
為獲得最高的精度，您需將環規或塞規放在 CMM 上與待檢查的工件相同的位置。
如果對標準塊掃描校準使用軟體補償選項，您可以透過以下方法提高精度：定義特徵的點密度（採樣頻率）來測量與標準塊校準中所用的點密度最接近的值。由於標準塊掃描篩選器在頻率範圍內套用，在標準塊的點密度與特徵掃描的點密度之間實現更大的相似性將導致更有效的校正。
策略的標籤位於自動特徵對話方塊中的測頭工具箱中（插入 | 特徵 | 自動 | 圓）：