系統模式
用於校準測頭的系統模式包括：
手動模式要求手動採集所有測點，即便 CMM 具有 DCC 功能。
DCC CMM 使用 DCC 模式。它自動採集所有測點，除非已移動校驗工具。在此情況下，您必須手動採集第一個測點。
手動 +DCC 模式為手動和 DCC 模式的混合模式。此模式有助於校準不易模擬的奇異測頭設定。在多數情況下，手動 +DCC 類似於 DCC 模式，但存在以下不同：
對於每個測點，必須始終手動採集第一個測點，即便未移動校驗工具。隨后將在 DCC 模式下自動採集該測尖的所有其余測點。
由於所有第一個測點均係手動執行，所以各測尖的預測量間隙移動均不會得以執行。
視您具有的測座類型而定，一旦 PC-DMIS 完成給定測尖的球體測量，可能或可能不執行最後的退回移動。
若您具有可移動的測座，如 PH9、PH10、PHS 等，則 PC-DMIS 將執行最后的退回移動，就如同其處於常規的 DCC 模式中一樣。PC-DMIS 繼續進行，而不進行提示，藉此確保測頭具有足夠間隙以移動到下一個測尖的 AB 角度，并執行下一個 AB 移動。
若您不具有可移動的測座，PC-DMIS 將不執行最后的回退移動。相反，PC-DMIS 直接繼續到下一個測尖的手動測點提示。
DCC+DCC 模式功能類似於 MAN+DCC 模式，但對於各測尖將手動採集第一個測點，PC-DMIS 相反採集 DCC 範例測點以定位球體。若您需使校準流程完全自動化，則此模式將會有用。然而，請注意 MAN+DCC 模式可能會得出更準確的結果。