當您在具有資格球的模擬測頭上執行盤式測尖的離散測點校準時，需要使用測量測頭對話方塊並指定以下內容：
在測點數對話方塊裡輸入 5 個測點。
在層數方塊中鍵入 2。
這些設定不套用於使用基於 Renishaw 掃描的校準的測頭。
請確保在定義測頭時，模擬盤式測尖而非球式測尖。按一下測量測頭對話方塊中的測量按鈕後，PC-DMIS 會自動識別您的模擬測頭為盤式測尖，並繼續此步驟：
若已移動球體，或若選取 Man + DCC 模式，則 PC-DMIS 將提示您以盤式測尖底部的中心在校準球體的頂端（北極）手動採集一個測點。若測頭配置具有一個額外的球式測尖附接到盤式測尖底部，則請確保以該球式測尖採集該測點。
若未移動球體，且選取不使用 Man + DCC 模式，則 PC-DMIS 將以 DCC 模式在校準工具頂端採集測點。
PC-DMIS 隨后透過在 DCC 模式下進行以下操作而完成：
PC-DMIS 將基於 PC-DMIS 設定編輯器中測頭校準部份的 ProbeQualAnalogDiskUsePlaneOnBottom 登錄項目值來執行以下操作之一：
若此項目設定為 1，則 PC-DMIS 將使用盤式測尖底部上的圓形模式在球體頂端採集四個測點，并根據其計算平面。測量平面有助於確保用於校準面的測點正確定向，以反映碟片的實際平面。對於使用離散測點的傳統校準方法，此為預設值。
若此項目設為 0，則 PC-DMIS 將不嘗試測量盤式面底部的平面。相反其使用盤的設計方向。對於基於 Renishaw 掃描的校準，此為預設值。
在球體頂端採集測點之后，將在兩層上採集六個測點，以獲得球體中心點的接近位置。
其使用此中心點以及平面測量或設計方向的向量以正確定位後續測量。
對於離散測點校準，將採集五個測點：前四個圍繞球體赤道，呈圓形模式，而第五個位於球體頂端（極）。
對於基於掃描的校準，將在兩個不同層處採集一系列掃描點，一層略低於赤道，而另一層略高於赤道。將以順時針和逆時針方向掃描每層。將使用兩個不同的掃描力偏移來掃描各層的各方向。此將總共形成八個掃描點。
PC-DMIS 還在測頭校準部分的 PC-DMIS 設定編輯器中提供其他兩個登錄項目。您可使用這些項目在校準過程中影響盤式測尖底部的測點位置。這些註冊表項為：
有關這些條目的更多資訊，請參見 PC-DMIS 設定編輯器文檔中的 「ProbeCal」。