掃描：導覽

透過 PC-DMIS 和 CMM 測量機，您可以使用 TTP（接觸觸發測頭）在 DCC（直接電腦控制）模式下以指定增量掃描工件曲面。另外，如果您在手動模式下操作，應同時使用接觸觸發測頭或硬測頭執行手動掃描。

關於接觸觸發測頭 (TTP) 掃描

DCC TTP 掃描亦稱為針步類型掃描，因為當與工件表面接觸時類似於縫紉機的針步操作，此操作是由 PC-DMIS 和 CMM 控制器驅動的。這些掃描由 PC-DMIS 和 CMM 控制器驅動。這可為您提供一種智慧型自適應算法，可對準確的測頭補償計算表面常規向量。

關於連續接觸掃描

DCC 連續接觸式掃描是用模擬測頭完成的掃描。這種類型的掃描測頭保持與工件表面的連續接觸。PC-DMIS 將掃描參數發送到控制器。控制器掃描工件，然後根據選取的參數通知 PC-DMIS 掃描點。連續掃描一般會導致大量的點資料生成相對較快。

可用掃描類型

這些不同的掃描方法對於數字化處理工件表面的設定檔相當有用。

面片掃描之表面繪圖範例

若要掃描工件的特徴和曲面，PC-DMIS 會為您提供這些掃描類型：基礎掃描、進階掃描和手動掃描。

本章主要討論插入 | 掃描子功能表的可用選項：

• 執行進階掃描

• 建立快速掃描

• 執行「基礎掃描」

• 執行手動掃描

有關掃描選項的詳細這些，請參閱 PC-DMIS 好文檔中的「掃描您的工件」一章。