過掃描

對於 DCC 系統,此參數控制測頭沿特徵的長軸和短軸掃描時超出標稱特徵尺寸範圍的程度。預設值係 2.0 公釐。若所測量特徵的實際位置與其理論值的出入較大,需增大此值,以確保 PC-DMIS 測量整個特徵。

在版本 2010 及以上,過掃描值不再進行任何類型的資料剪裁。特徵提取標簽中新的基於特徵的剪輯區域現在處理剪輯。請參閱「基於特徵的剪裁參數」主題。

對於 DCC 鐳射圓柱或圓錐特徵,過掃描值應為負值。

對于雷射圓柱特徵(有關外柱資訊,參閱雷射圓柱),過掃描值應為正值。

以黃色顯示過掃描的示例槽特徵