使用校驗 影像 測頭的相同工具校驗接觸式測頭偏移時，校驗可以建立一個常見偏移參照系。
要校驗接觸式測頭偏移：
選取插入 | 硬體定義 | 測頭功能表項目。
在測頭公用程式對話方塊中定義接觸式測頭與測尖。
選取測量，開啟測量測頭對話方塊。
在測量測頭對話方塊中指定如下值：
運動： Man+DCC
作業類型：校驗測尖
校驗模式：使用者定義的模式
起始角度： 0
結束角度： 359
可用工具清單： 20mm 環（選擇與確定 影像 測頭偏移所用工具相同的工具。）
選取測量，若詢問否移動了工具，此次按一下否。這將告知 PC-DMIS 已瞭解工作台上的實際工具位置。
按一下測尖提示訊息方塊上的確定。
螢幕上顯示一個訊息方塊，提示您從孔徑中心下面或 –Y 方向在工具面上採集 1 個測點。按一下確定，然後採集接觸點。校驗常式執行一次粗略的孔徑測量、一次平面測量、一次較精確的孔徑測量以及 Z 偏移點測量。
現在這兩個測頭都測量了工具，並且根據相同工具的位置資料得出了偏移值。