從觸測目標標籤中的目標類型清單，可指定要使用的測量法。根據特徵類型，最多有三種使用 影像 測頭執行特徵測量的方法：
下面的範例使用了圓特徵。
方法 1 – 量規觸測目標 - 需在圖上調整特徵（本例中爲圓）的大小，並將其定位到符合「圖形顯示」視窗 影像 標籤上的特徵的位置。您亦可在公差帶內檢視此圖像。以圓爲例，將提供 XY 位置和直徑。此模式的參數在「量規觸測目標特徵參數」主題中進行了介紹。
方法 2 – 手動觸測目標 - 需繞特徵（本例中爲圓）定位指定數目的點。然後 PC-DMIS 影像測量 使用這些點計算特徵。可使用任意數目的目標協助測量特徵。此模式的參數在「手動觸測目標特徵參數」主題中進行了介紹。
方法 3 – 自動觸測目標 - 採用圖像處理自動偵測特徵（本例中爲圓）。然後根據所定義的目標計算圓。此模式的參數在「自動觸測目標特徵參數」主題中進行了介紹。
方法 4 – 光學比較儀觸測目標 - 對目標測量運用公差帶的上下限。在特徵執行過程中，可目測此公差帶內的特徵。然後，從執行對話方塊中按一下繼續（通過）或略過（失敗）來接受或拒絕此特徵。此模式的參數在「光學比較儀觸測目標 - 棱邊參數設定」主題中進行了說明。