(此项目属于测头工具对话框,其可通过插入 | 硬件定义 | 测头访问。)
当使用 Renishaw 基本扫描的方法来校验 Renishaw 模拟测头(例如 SP25、SP600 或者 SP80)时,第一次校验必须是完成所有扫描的全部校验。全部校验之后,如果需要可以选择一种更简单的校验方式。
全部校验方式除了测针偏置和测针大小之外,还有所有模拟测头系数.
局部(单一)校验工作方式类似于非模拟测头校验:包含了不连续触测(不扫描)和仅仅计算测针的偏置和测针的大小;模拟测头系数保持不变.
执行单一校验
在主菜单中,选择插入 | 硬件定义 | 测头,显示测头工具对话框。
从测头文件列表中选择雷尼绍模拟测头
选择使用部分校验复选框。对于没有应用的测头这个仍然不可用
从激活测尖列表选择一个或多个已经校验的测针
点击测量按钮. 测量对话框出现.
根据需要在测量对话框上作出更改。若定义任何已命名参数集,则 PC-DMIS 应将使用部分校准复选框状态保存以备以后使用。
单击测量。执行所有屏幕提示。PC-DMIS 将执行简化校准。
PC-DMIS 设置编辑器中ProbeCal 部分中的 ProbeUsePartialCalibration 注册表项保存默认值,以确定在定义新测头文件时是否选择此复选框。