PC-DMIS 가 그 특성을 측정하는 방법을 변경하는 사전 정의된 계획을 선택하기 위해 특정 자동 특성을 위한 측정 방법을 사용할 수 있다. 측정 방법은 다음과 같이 그룹화된다:
기본 PC-DMIS 측정 방법 - 이 방법은 기본 접촉 지점 방법이다. 모든 자동 특성을 위해 사용할 수 있다.
조정 스캔 방법 - 이들 방법의 이름은 "적응" 으로 시작한다. 측정 루틴을 실행할때, 이 방법은 스캔 매개변수를 결정하기 위해 데이타베이스를 참조한다.
비 조정 스캔 방법 - 이들 방법 (게이지 스캔 조정, 원기둥 중앙 나선 스캔, 그리고 자체 중심점) 은 스캔 매개변수를 결정하기 위해 데이타베이스를 참조할 필요가 없다.
TTP 방법 - 이들 방법의 이름은 "TTP" 로 시작한다. 이들 방법은 특성을 측정하기 위해 접촉 트리거 프로브를 사용한다.
모든 측정 방법을 위한 최상의 결과는, PC-DMIS 설정 편집기가 활성화된 VHSS 를 가지고 있어야한다.
특정 방법을 수정하기위해 측정 방법 편집기(MSE) 기능을 사용할 수 있다. MSE 로, 특성 레벨에서 사용자 정의 방법을 수정하고 저장할 수 있다. 또한, 모든 자동 특성에 대한 설정 그룹을 수정하고 저장할 수 있다. MSE 에 대한 상세 정보는, PC-DMIS 핵심 문서에서 "측정 방법 편집기 사용" 을 본다.
측정 방법을 선택하기 위해, 다음을 수행한다:
프로브 도구상자 에서, 측정 방법 탭을 선택한다 (). 처음에, PC-DMIS 는 기본 PC-DMIS 측정 방법 을 보여준다.
아래 화살표 아이콘을 클릭한다음 사용하고자하는 측정 방법을 선택한다. 프로브 도구상자 탭은 그 방법에 적용하는 탭만을 보여주기 위해 변경된다. 예를들어, 조정 원 스캔 (스캔 프로브가 사용 가능) 방법은 다음과 같다:
샘플 프로브 도구상자 탭
방법에 대한 모든 알려진 정보로 측정 방법의 탭 (설정, 상급, 필터 기타)의 속성을 완료한다.
조정 스캔 방법을 위한 속성을 완료하기 위해, "조정 스캔 방법 사용" 을 본다.
비 조정 방법을 위한 속성을 완료하기 위해, "비 조정 스캔 방법 사용" 을 본다.
TTP 방법을 위한 속성을 완료하기 위해, "TTP 속성 사용하기" 을 본다.
특성을 테스트하기 위해, 테스트 를 클릭한다.
기본 PC-DMIS 측정 방법의 경우, PC-DMIS 는 자동 특성 대화상자에서 지정한 설정에 따라 특성을 측정한다.
조정 스캔 측정 방법의 경우, PC-DMIS 는 방법의 탭에서 지정한 매개변수에 따라 특성을 스캔한다.
비 조정 스캔 방법의 경우, PC-DMIS 는 방법의 탭에서 지정한 설정에 따라 특성을 측정한다.
TTP 조정의 경우, PC-DMIS 는 방법의 탭에서 지정한 설정에 따라 접촉 지점으로 특성을 측정한다.
만들기를 클릭한다. 특성 속성 영역의 지금 측정 버튼 ()이 선택되면, 프로브는 특성 위치와 다른 특성을 위한 자동 특성의 속성을 사용해서 상급 탭에서 지정된 설정에 따라 이동한다.
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