온도 프로브는 일반 프로브 작동 방식과 유사하게 작동한다. 측정은 센서가 부품을 접촉했을때 시작한다.
온도 프로브 지점은 다음과 같이 될 수 있다:
측정된 지점
벡터 지점
온도 프로브 센서의 벡터를 따라 온도 프로브 지점을 측정해야 한다. 따라서 프로브 팁으로 온도 센서를 선택하고 포인트를 측정할때, PC-DMIS 는 활성 온도 프로브의 벡터를 따라 CMM을 조종하고 측정된 지점 또는 벡터 지점의 이론상의 벡터를 무시한다. 이 작업은 측정이 정확하고 온도 센서가 부품에 올바르게 부품을 접촉하게 한다.
온도 측정 방법
PC-DMIS 는 다음의 온도 측정 방법을 지원한다; 그러나, 이 지원은 사용하고 있는 특정 CMM 의 기능에 따라 달라진다. 일부 CMM들은 오직 한 방법만을 지원한다. B4 Leitz 컨트롤러를 가진 CMM은 양쪽 방법을 지원하는 구성의 예이다.
온도는 부품 측정의 특정 간격 (접촉 시간) 후 측정된다:
이 방법에서, 센서는 정의된 시간동안 구성요소와의 접촉이 유지된다. 온도는 부품의 온도를 결정하기 위해 지속적으로 측정된다. 이 방법을 지원하는 대부분의 CMM은 일반적으로 지연 시간이라하는 기본 접촉 시간을 가진다.
CMM의 기본 시간 이외의 접촉 시간으로 온도를 측정하기 위해, 측정을 수행할 지점 앞 PC-DMIS 측정 루틴 어딘가에 타당한 "지정" 을 삽입해서 원하는 접촉 시간을 지정해야 한다. 지정을 위한 변수명은 다음과 같다:
TEMPSENSOR_CONTACT_TIME_SECONDS
지정의 예는 다음과 같다:
ASSIGN/TEMPSENSOR_CONTACT_TIME_SECONDS=30
접촉 시간의 선택은 온도 센서의 감지도(정확도)에 따라 달라진다. 시간이 너무 짧으면, 부품의 온도는 올바르지 않게 읽혀질 수 있다.
이 측정 루틴에 "지정" 문을 가질 필요가 없다. 이것은 CMM 을 위한 기본값의 사용을 원하지 않을때만 필요하다.
추정방법(외삽법)에 의해 측정된 온도:
이 방법에서, 센서는 짧은 시간 동안 구성 요소와의 접촉 유지하고, 구성 요소의 온도는 몇개의 측정된 값에서 추정된다. 0 의 접촉 시간을 지정하는 "지정" 문을 사용하면, PC-DMIS는 CMM 이 그것을 지원하는 경우 외삽 법을 사용하려 한다. 이 경우, 컨트롤러는 온도 측정을 위한 시간을 제어한다.
0 의 접촉 시간을 위한 지정은 다음과 같다:
ASSIGN/TEMPSENSOR_CONTACT_TIME_SECONDS=0
외삽법을 활성화하기 위해, 0 의 접촉 시간을 지정한다. 외삽법을 비활성화하고 지정된 시간 간격을 사용하기 위해, 0 보다 큰 접촉 시간을 지정한다.
큰 부품의 온도 측정하기
한 위치 이상에서 큰 부품의 온도를 측정하기 원할 수 있다. 이 경우, 온도 보정은 그 온도 읽기의 평균을 바탕으로 한다. 이것을 수행하기 위해, 여러개의 온도 지점들을 측정해야 한다. PC-DMIS 는 평균 온도를 기록한다.
여러번의 온도 측정하기
온도를 여러번 측정할때, PC-DMIS 는 매번 온도를 기록하고 TempComp(온도 보정) 명령을 위한 평균 온도를 사용한다. TempComp 명령이 실행되었을때, 읽기의 합계는 이후의 온도 읽기의 새로은 평균을 내기 위해 재지정된다. 또한, 평균 온도가 기록된다. 읽기의 합계는 프로브가 변경되었을때 또한 재지정된다.
온도를 다시 측정하고자 하면, 그것을 다시 측정하기 전에 기록된 온도를 "재지정" 하기 위해 TempComp (온도 보정) 명령을 실행해야 한다.
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