샘플 접촉을 사용하는 자동 특성이 측정되면, PC-DMIS 는 측정 루틴 실행중 그 샘플 접촉들을 수행하라는 메시지를 준다. 휴대용 팔로 단지 몇몇의 개별적인 접촉들을 수행하는 대신, 각 표면에서 다수의 접촉을 매우 신속히 수집하기 위해 프로브로 표면을 지금 스캔할 수 있다. 이것은 정확도를 향상시키는것을 돕는다.
자동 원과 같은, 일부 특성은 하나의 샘플 평면이 있다. 자동 각도 지점 또는 자동 모서리 지점과 같은, 다른 자동 특성은 다수 샘플 평면이 있다. 표면을 스캔하기 위해, 컨트롤러에서 접촉의 수집을 시작하는 이동식 기계의 버튼을 누른다음, 원하는만큼 표면 위를 프로브가 통과하게 한다. PC-DMIS 는 다수의 접촉을 읽을 것이다. 버튼을 풀고 표면의 스캔을 끝냈을때, PC-DMIS 는 다음 표면에서 샘플 접촉의 다음 세트를 수행하라는 메시지를 준다. 모든 표면에서 필요한 모든 샘플 접촉을 스캔할때까지 이 절차를 계속한다.
샘플 접촉들을 위한 스캔의 규칙들
한 스캔의 일부로 다수 샘플 평면들을 위해 스캔할 수 없다. 다시말해서, 모서리들 주위에서 샘플 접촉들을 스캔할 수 없다. 샘플 접촉들을 위해 스캔을 할때, 각 스캔은 반드시 단독 표면에 남아야 한다. 세개의 표면들을 사용하는 모서리 지점 특성과 같은 한개 이상의 표면으로부터 특성이 샘플 접촉들이 필요하면, 각 표면은 그 자체 스캔이 필요하다.
샘플 접촉들을 위한 스캔을 하면 동일 스캔의 일부를 사용해서 특성을 측정할 수 없다. 그것을 측정하기 위해 특성을 실제로 스캔하기 전에 샘플 접촉들을 스캔할때, 샘플 접촉들이 필요한 각 표면을 위한 스캔 일부를 수행해야 한다, 그런다음 실제 특성 측정을 위한 스캔 일부를 분리한다.
샘플 접촉이 아닌 실제 특성을 스캔할때, 단독 스캔으로 특성 측정을 수행할 수 있다. 예를들어, 자동 사각형 슬롯의 경우, 한 연속 부분에서 네개의 모든 면을 스캔할 것이다.
자동 특성과 샘플 접촉에 관한 정보는, PC-DMIS 핵심 문서의 "자동 특성들 만들기" 단락을 본다.
하드 프로브 스캔을 위한 레지스트리 항목들
이동식 팔의 컨트롤러에서 PC-DMIS 로 지점이 어떻게 그리고 언제 읽혀지는지를 제어하는 PC-DMIS 설정 편집기에 여러 레지스트리 항목이 있다. 다음의 레지스트리 항목은 HardProbeScanningInFeatures 부분에 있다:
MinDeltaBetweenPointsInMM - 새로운 접촉이 컨트롤러에서 PC-DMIS로 보내지기 전에, 프로브가 반드시 지나야 하는 최소 거리를 (밀리미터로) 설정한다.
MinTimeDeltaBetweenPointsInMilliseconds - PC-DMIS 가 새로운 접촉을 수행하기 전에 반드시 지나야하는 최소 시간을 (밀리초로) 설정한다.
MaxPointsForAFeature - 특성을 위해 필요한 지점의 최대수를 설정한다. 이 최대수를 초과한 컨트롤러에서 PC-DMIS로 읽혀진 지점은 무시된다.
이들 레지스트리 항목에 관한 정보는, PC-DMIS 설정 편집기를 시작하고, 온라인 도움말을 열기 위해 F1 을 누른다. 그런다음 적절한 항목으로 이동한다.