표면 오프셋들과 함께 반사기 정의들이 emScon 서버로부터 자동적으로 수령되고 설정 도구바에 모두 존재한다. 표준 반사기들이 사용되고 있을때 새로운 프로브들을 정의할 필요가 없다.
기록장치 시스템이 반사 장치를 발견하면, 프로브 파일 선택 대화상자가 나타난다. 이것은 타당한 반사 장치를 선택할 수 있게 한다.
프로브 보정과 오프셋 방향
신속 스캔
반사장치를 사용해서 표면 또는 특성을 스캔하기 위해, 스캔 모드로 있어야 한다. 이것을 하기 위해서는, 계속 모드를 시작하기 위해 조작 | 시작/정지 연속 모드 메뉴 항목을 선택한다.
연속 모드는 반사 장치 위치를 위해 증가 지점의 측정을 수행할 수 있게 한다. 스캔을 실행하기위해, 반사장치를 사용할때 Ctrl-I를 누른다. 연속 스캔을 중지하기 위해, Ctrl-I를 다시 누른다.
설정 옵션 대화상자 (수정 | 선호 | 설정)의 부품/기계 탭에서 스캔 최소 시간 델타와 스캔 최소 거리 델타 를 설정할 수 있다. 지점 거리 분리를 위한 기본값은 2mm 이다.
상급 스캔
일부분, 다수-부분, 기타와 같은 많은 고급 스캔이 있다. 삽입 | 스캔 메뉴에서 스캔을 만든다. 상세 정보는, PC-DMIS 핵심 문서의 "부품 스캔" 단락에서 "부품 스캔: 소개" 항목의 "상급 스캔" 하위 항목을 본다.