从测头工具箱中选择测量策略选项卡（
）。PC-DMIS 最开始显示默认 PC-DMIS 测量策略。
对特定自动特征使用测量策略可选择预先定义的方案，更改 PC-DMIS 测量这些特征的方式。测量策略如下分组：
PC-DMIS 默认测量策略 - 此策略是默认的触点策略。其适用于所有自动特征。
自适应扫描策略 - 这些策略的名称以“自适应”开头。执行测量程序时，这些策略将参考数据库确定扫描参数。
非自适应扫描策略 - 这些策略（量规扫描校准、圆柱置中螺纹扫描和自定心点）不需要参考数据库即可确定扫描参数。
TTP 策略 - 这些策略的名称以“TTP”开头。这些策略使用接触触发测头测量特征。
为获得所有测量策略的最佳结果，应在 PC-DMIS 设置编辑器中启用 VHSS。
您也可以使用测量策略编辑器（MSE）功能来修改某些策略。通过MSE，可以在特征级别修改和存储自定义策略。另外，您可以修改和存储所有自动特征的设置组。有关 MSE 的更多信息，请参阅 PC-DMIS 核心文档中的“使用测量策略编辑器”。
要选择测量策略，请执行以下操作：
从测头工具箱中选择测量策略选项卡（）。PC-DMIS 最开始显示默认 PC-DMIS 测量策略。
单击下拉箭头，然后选择要使用的测量策略。测头工具箱选项卡会作出更改，仅显示适用于该策略的选项卡。例如，自适应圆扫描（适用于扫描测头）策略类似于：
”测头工具箱“选项卡示例
使用所有有关策略的已知信息完成测量策略选项卡（设置、高级、筛选器等）上的属性。
要完成自适应扫描策略的属性，请参见“使用自适应扫描策略”。
要完成非自适应扫描策略的属性，请参见“使用非自适应扫描策略”。
要完成 TTP 策略的属性，请参见“使用 TTP 策略”。
要测试特征，单击测试。
对于 PC-DMIS 默认测量策略，PC-DMIS 会根据自动特征对话框中指定的设置测量特征。
对于自适应扫描测量策略，PC-DMIS 将根据策略选项卡上指定的参数扫描特征。
对于非自适应扫描策略，PC-DMIS 将根据策略选项卡上指定的设置测量特征。
对于 TTP 策略，PC-DMIS 将根据策略选项卡上指定的设置测量带触点的特征。
单击创建。若选择了特征属性区域中立即测量按钮（
），测头会根据高级选项卡上指定的设置采用特征位置及其他特征的的自动特征属性进行移动。
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