测量温度探测点

温度测头的工作机制与正常的测头类似。当传感器接触到零件时开始测量。

温度探测点可以是:

您必须沿温度测头传感器的矢量方向测量温度触测点。当选择某一温度传感器作为测头测尖并测量点时,PC-DMIS 会沿使用中的温度测头的矢量方向驱动 CMM,同时忽略测量点或矢量点的理论矢量。此操作可确保测量值正确无误,并且温度传感器接触到零件的正确部位。

温度测量方法

PC-DMIS 支持以下温度测量方法;但是,这一功能取决于正在使用的特定 CMM 的功能。一些 CMM 仅支持一种测量方法。例如,带 B4 Leitz 控制器的 CMM 仅支持两种测量方法。

在与接触零件有一定间隔(接触时间)后才测量温度:

用这种方法,能保持传感器与组件接触设定的时长。持续测量温度以确定零件的温度。大部分支持此种模式的CMM均有一个默认接触时间,通常作为延迟时间。

要测量 CMM 接触时长的温度,而不是默认时长,您需在点实施测量前通过在您 PC-DMIS 测量例程某处插入一个相应的“赋值”来确定所需的接触时间。该赋值变量的名称为:

温度传感器_接触_时间_秒

赋值示例为:

赋值/温度传感器_接触_时间_秒=30

接触时间的选择取决于温度传感器的灵敏性。若时间太短,零件温度的读取可能会出错。

不必在测量例程中给出“赋值”语句。只有当不使用 CMM 默认值时,才需要进行此操作。

用外推法来测量的温度:

用这种方法,只能保持传感器与组件接触非常短的时间,且组件温度是由一些被测值而推断出的。若您使用规定接触时间为0的“赋值”语句,则PC-DMIS在CMM支持的情况下试图使用外推法。这种情况下,控制器控制测量温度的时间。

赋值接触时间为0 的语句为:

赋值/温度传感器_接触_时间_秒=0

要启用外推法,将接触时间指定为 0。要禁用外推法并使用指定的时间间隔,将接触时间指定为大于 0 的值。

在大零件上测量温度

您可能想在不同位置测量大零件的温度。这种情况下,温度补偿基于温度读数的平均值。为此,您应测量多个温度点。PC-DMIS记录平均温度。

多次测量温度

当您多次测量温度,PC-DMIS记录每次的温度,并根据温度补偿命令使用平均温度。当执行温度补偿命令时,则重置读数之和以启动随后温度读数的新平均值。此外,记录平均温度。读数之和在更换测头时也将重置。

若您想再次测量温度,则需执行温度补偿命令来在再次测量之前“重置”记录的温度。

更多信息:

使用温度传感器

创建一个温度测头文件

编辑温度测头组件

使用带有工具架的温度测头