关于叶片扫描命令

您可以使用叶片扫描命令根据 PC-DMIS 叶片式分析软件的要求来扫描叶片截面。叶片扫描命令能让您按便利顺序测量叶片截面。

叶片扫描命令和冀型测量软件 BladeRunner 结合使用，该软件可在 PC-DMIS 中执行叶片式测量例程。

叶片截面

支持的叶片类型

叶片扫描命令支持下列叶片类型

• 带正常前端和末端的叶片

• 前端和末端带有方形端部或两侧带有方形端部的叶片

• 前端和末端带有偏端或两侧带有偏端的叶片

• 斜截面

叶片扫描命令不支持整体叶盘。

要求

叶片扫描命令需要下列工具：

• 一个模拟测头。测头类型能够在不离开零件的前提下连续扫描。

LSPX1、LSPX3、SP25 和 SP600

• PC-DMIS 叶片分析中编制的标称值文件，叶片扫描命令需要读取关于叶片的标称值文件 (BladeName.nom)。有关标称值文件的更多信息以及编制方法，请参见 PC-DMIS 叶片分析文件。有关标称值文件的更多信息以及编制方法，请参见 PC-DMIS 叶片分析文件。

• 叶片扫描命令仅能够在 DCC 模式下运行。将测量例程置于 DCC 模式下。更多信息，参见 PC-DMIS 核心文档“使用工具栏”一章中的“测头模式工具栏”主题。

推荐的叶片位置

您可以将叶片放置在固定装置上，从而：

• LE (leading edge) 可以朝向您或面对 Global CMM 的正面。

• LE 和 TE (trailing edge) 的联接线应基本上与 Global CMM 的 Y 轴平行。

• 叶片的 Z 轴应与 CMM 的 Z 轴平行。

叶片截面测头测尖

针对不同的叶片截面，您可能需要使用不同的测尖。因此您需要使用 TIP/ 命令创建两个叶片扫描命令。第一个叶片扫描命令确保可采用第一个测尖来扫描这些截面。第二个叶片扫描命令确保可采用第二个测尖来测量这些截面。

其他信息

• 如果您需要在双向模式中扫描大部分叶片截面，并且只有下方或顶部的截面需要在双向模式中进行测量，您可以创建两个或两个以上的叶片扫描命令，且仅启用每个命令均能测量的截面。您之后可以为每个命令设置单向或双向。

• 叶片式扫描命令将创建内部测量例程特征。这些功能以这种格式命名：

<命令名称>.项目[<选择名称>]

<命令名称>是叶片式扫描命令名称，以及 <选择名称> 是选择名称。

例如：

BLDSCN1.ITEM[A-A]