您可使用 ESF 命令为分析应用程序（Messtechnik-Applikation 或 MTA）支持的测量原则创建特征。这些测量原则为可用测量原则的子集。下表列出 PC-DMIS 支持的特征。
测量原则 |
类型 |
支持的特征： |
点 |
触觉和光学 | AA、AC |
轮廓 |
形状点 |
BA |
最高点 |
BF、BH、BM、BN、BP |
|
修整 |
BK |
|
光学 |
BA、BD、BF、BK、BH、BM、BN、BP |
|
孔 |
位于垂直于曲面的穿孔平面中 |
CA、DG、EG、GA、HA、IG |
位于不垂直于曲面的穿孔平面中 |
CB、DH、EH、GB、HB、IH |
|
位于曲面中 |
CD、DI、EI、GD、HD、II |
|
光学和光学NM |
CA、DG、EG、GA、HA、IG、CB、DH、EH、GB、HB、IH |
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标准零件 |
可触测 |
LA、LB、LC、LD |
不可触测 |
LE、LF、LG |
|
光学 |
LA、LB、LC、LD、LE、LF、LG、LH |
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