使用校验影像测头的相同工具校验接触式测头偏移时，校验可以建立一个通用的参考偏移框体。
要校验接触式测头偏移，请执行以下步骤：
选择 插入 | 硬件定义 | 测头菜单项。
在测头工具对话框定义接触式测头和测尖。
选择测量打开测量测头对话框。
在测量测头对话框指明如下的值：
移动： 手工+DCC
操作类型：校验测尖
校验模式：用户定义
开始角度： 0
结束角度： 359
可用工具列表：20mm 圆环（使用确定影像测头偏移的相同工具。）
选择测量，若询问否移动了工具，此次单击否。这将告知 PC-DMIS 已了解工作台上的实际工具位置。
在测尖提示信息框上单击确定。
会出现一个信息框，提示您在工具面之下或在口中心的 -Y 方向取一个测点。单击确定，然后采集该接触点。然后校验例程会执行一次粗口测量、一次面平面测量、一次更精确的口测量，然后是一次 Z 偏移点测量。
现在测头已经测量了该工具，并且有了基于相同工具位置数据的偏移值。