您可以通过从触测目标选项卡的目标类型列表中选择来指定测量方法。取决于特征类型，使用影像测头有四种方法可以进行特征测量：
下例使用了圆特征：
方法 1 – 量规触测目标 - 需在图上调整特征（本例中为圆）的大小，并将其定位到符合“图形显示”窗口影像选项卡上的特征。您还可以在公差带中查看此图像。以圆为例，将提供 XY 位置和直径。此模式的参数在“量规触测目标特征参数”主题中进行了介绍。
方法 2 – 手动触测目标 - 需绕特征（本例中为圆）定位指定数目的点。然后 PC-DMIS 影像测量 使用这些点计算特征。可使用任意数目的目标协助测量特征。此模式的参数在“手动触测目标特征参数”主题中进行了介绍。
方法 3 – 自动触测目标 - 采用图像处理自动检测特征（本例中为圆）。然后根据所定义的目标计算圆。此模式的参数在“自动触测目标特征参数”主题中进行了介绍。
方法 4 – 光学比较仪触测目标 - 对目标测量运用公差带的上下限。在特征执行过程中，可目测此公差带内的特征。然后，从执行对话框中单击继续（通过）或跳过（失败）来接受或拒绝此特征。关于此模式的参数将在"光学比较触测目标 - 边缘参数设置"主题讨论。