测尖偏置校验基于工具在工具台上的位置。校验测尖时，若移动过校验工具，工具在工作台上的位置取决于测尖偏置。若测尖未被校准，则使用probe.data中的测尖偏置。
有时为测尖偏移校验维护一个普通的参考帧非常重要。当使用常规工具校验多个测尖时，测尖会有相同的参考偏移帧。通过假定第二个工具移动并通过在第一个工具上校验过的测尖进行了测尖偏移校验，该参考帧可以扩展为第二个工具。使用同一个参考帧测量的特征位置，必须得到同样的结果（在装备测量能力内）。如果您在工具上校验的测尖并不是位于同一个帧，而且没有假设工具已经移动，则测尖校验参考帧变更为该工具。使用在不同参考帧校验的测尖测量的特征会得出显著不同的答案。
考虑一个新的系统，这里没有校验过的测头或工具，使用球体和环形工具进行测尖校验。使用球体工具校验接触式测头，并假定工具移动。然后在环规上校验同一个接触测头并假定工具移动。两次为接触测尖的校验建立了工具和接触测尖之间的参考。现在，在环规上校验影像测尖。接触测尖和影像测尖将会有相同的参考偏移校验帧。两个工具的两个测头的偏移校验是关联的，因为当环形工具假设已经移动时，测头在球体上进行的偏移校验已经在环形工具上校验。因为环形工具假定已经移动（或者说其位置未知），当使用环形工具校验接触测尖时，将会根据接触测尖的测量偏移确定环形工具在工作台中的位置。接触测尖的偏移将会用于确定两个工具的工作台位置，然后影像测头的偏移则是根据其中一个工具的工作台位置。
如果接触测尖在球体工具上校验，然后影像测尖在环形工具上校验，那么这两个测尖不会交叉参考。如果接触测尖在球体工具上已经校验，影像测尖在环形工具上已经校验，然后接触测尖在环形工具上校验，两种测尖就会位于同一个参考帧，但是这将会是与球体或在球体工具上校验的其他任何测尖所不同的参考帧。这是因为影像测尖用于在环形工具移动时确定它的位置，但是影像测尖还未能在球体工具上校验。接触测尖参考帧会改变以匹配环形工具。为了维护测尖交叉工具的联系，每当工具移动时（也意味着一个未知位置的工具），在刚刚移动的工具上的校验测尖必须与第一个工具位于同一个参考帧。
您只可以在环规上校验星状测尖校验测头的底测尖。一个球体工具或一个结合环规的球体工具可以用于提供测头星状测尖和影像测头的交叉参考。通常情况下，该交叉参考可以通过校验球体上的所有接触测头星状测尖完成。然后在环规上校验底测尖，也就是说工具已经移动。然后，在环形工具上上校验影像测尖。然后您可以使用球体工具和环形工具上的影像测头校验接触测尖。