ゲージスキャンフィルタは、同様のサイズのマスターリングやプラグをCMM上の同じ位置に配置することによりスキャンを比べると、可能な限り高い精度で円や円筒の形を測定することができます。非常にタイトな形状公差で部品の生産リングやプラグ、円形の要素を測定するために、このフィルタを使用することができます。
自動円に対するゲージスキャン校正方策はゲージスキャンフィルタで使用するためのプローブルビーを校正します。ゲージスキャン校正データはプローブファイルに格納されます。ゲージスキャンフィルタはアダプティブ円スキャンおよびアダプティブ円筒同心円スキャン方策で使用できます。
プローブルビーを再校正すると、PC-DMISはゲージスキャン校正データを削除します。再度ゲージスキャン校正を実行する必要があります。
ゲージスキャンフィルタオプションは、[プローブデータの編集]ダイアログボックス（[挿入|ハードウェア定義|プローブ|編集]ボタン）にあります。各プローブ先端のゲージスキャンフィルタオプションは、ゲージスキャン校正データが利用可能かどうかを示します。このオプションの詳細については、PC-DMIS Coreドキュメントの「ハードウェアの定義」章の「ゲージスキャンフィルタ」を参照してください。
最適の結果については：
精確に穴の内部に測定するために、ゲージスキャン校正を使って、リングゲージでプローブ先端を校正します。
精確に穴の外部を測定するために、ゲージスキャン校正を使って、プラグゲージでプローブ先端を校正します。
ゲージスキャン校正を使って、正確に検査する必要がある部分にできるだけ近い直径のリングまたはプラグでプローブ先端を校正します。
最も高い精度を得るには、検査のパーツが配置されているCMMの同じ場所にリングまたはプラグゲージを置きます。
ゲージスキャンキャリブレーション用のソフトウェア補償オプションを使用する場合、ゲージ測定によく使用される点密度にできるだけ接近している値で測定するべき点密度(サンプル頻度)を定義することにより、精度を改善することができます。ゲージスキャンフィルターは周波数領域で使用されているので、ゲージ点密度を要素スキャン点密度と比べて類似性が高い場合、より効果的な修正につながります。
方法のタブは自動要素ダイアログボックス (挿入 | 要素 | 自動 | 円)のプローブツールボックスに配置されます。