비슷한 크기의 마스터 링 또는 플러그의 스캔을 비교해서 그리고 CMM의 동일 위치에 배치해서 게이지 스캔 필터는 가능한 가장 높은 정확도로 원과 원기둥의 형태를 측정 할 수 있게 한다. 매우 작은 공차를 가진 부품의 생산 링 또는 플러그, 그리고 원 특성을 측정하기 위해 이 필터를 사용할 수 있다.
자동 원을 위한 게이지 스캔 조정 방법은 게이지 스캔 필터 로 사용하기 위해 프로브 팁을 조정한다. 게이지 스캔 조정 데이타는 프로브 파일에 저장된다. 게이지 스캔 필터는 조정 원 스캔 과 조정 원기둥 동심 원 스캔 방법으로 사용될 수 있다.
프로브 팁을 다시 조정하면, PC-DMIS 는 게이지 스캔 조정 데이타를 삭제한다. 게이지 스캔 조정을 다시 수행해야 할 것이다.
게이지 스캔 필터 옵션은 프로브 데이타 수정 대화상자(삽입 | 하드웨어 정의 | 프로브 | 수정 버튼)에 있다. 각 프로브 팁의 게이지 스캔 필터 옵션은 게이지 스캔 조정 데이타가 사용될 수 있는지의 여부를 나타낸다. 이 옵션에 관한 정보는, PC-DMIS 핵심 문서의 "하드웨어 정의" 단락에서, "게이지 스캔 필터" 를 본다.
최상의 결과를 위해:
내부 구멍을 정확하게 측정할 링 게이지로 프로브 팁을 조정하기 위해 게이지 스캔 조정을 사용한다.
외부 구멍을 정확하게 측정할 플러그 게이지로 프로브 팁을 조정하기 위해 게이지 스캔 조정을 사용한다.
정확하게 검사되어야 하는 부품에 최대한 가깝게 지름을 가진 링 또는 플러그 게이지를 사용해서 프로브 팁을 조정하기 위해 게이지 스캔 조정을 사용한다.
최고의 정확도를 얻기 위해, 점검을 위해 부품을 배치할 CMM의 동일 위치에 링 또는 플러그 게이지를 배치하고자 할 수 있다.
게이지 스캔 조정을 위한 소프트웨어 보정 옵션을 사용하면, 게이지 조정에 사용된 지점 밀도와 최대한 가까운 값으로 측정할 특성을 위한 지점 밀도 (샘플 빈도)를 정의해서 정확도를 향상시킬 수 있다. 게이지 스캔 필터가 빈도 영역에 적용되기 때문에, 특성 스캔의 지점 밀도와 비교해서, 게이지의 지점 밀도 사이의 큰 유사성 달성은 보다 효과적인 정정을 하게 된다.
방법의 탭은 자동 특성 대화상자(삽입 | 특성 | 자동 | 원)의 프로브 도구상자 에 위치한다: