프로브 팁 오프셋 조정은 스테이지에서 도구의 지점을 바탕으로 한다. 팁이 조정되고 도구가 이동했을때, 스테이지의 도구 지점은 팁 오프셋을 바탕으로 결정된다. 팁이 아직 조정되지 않았다면, probe.dat 데이타로부터 이론상의 팁 오프셋이 사용된다.
팁 오프셋 조정들을 위한 참조의 공통 프레임을 유지하는것은 중요할 수 있다. 공통 도구를 사용해서 다수의 팁들이 조정되었을때, 팁들은 참조의 동일 오프셋 프레임을 갖는다. 두번째 도구를 이동하고 첫 도구에서 조정된 팁으로 팁 오프셋 조정을 수행해서 이 참조 프레임은 두번째 도구에 의해 사용될 수 있다. 동일한 참조 프레임에 팁으로 측정된 특성의 위치들은 (장치 측정 능력내에서) 동일한 답을 내어야한다. 동일한 참조 프레임에 있지 않고 도구를 이동하지 않는 도구의 팁을 조정하면, 참조 프레임의 팁 조정은 도구로 변경된다. 다른 참조 프레임으로 조정된 팁으로 측정된 특성은 매우 다른 답을 낼수도 있다.
프로브 또는 도구가 조정되지 않았고 구체와 링 도구가 팁 조정위해 사용된 새로운 시스템을 고려한다. 구체 도구를 사용하고 도구를 이동해서 접촉 프로브를 조정한다. 링 게이지에서 동일 접촉 프로브를 조정한다. 접촉 프로브 팁을 위한 두 조정들은 도구와 접촉 프로브 팁 간의 참조를 설정한다. 이제, 링 게이지의 비전 프로브 팁을 조정한다. 접촉 프로브 팁과 비전 프로브 팁은 참조 프레임의 동일 오프셋 조정을 가질것이다. 두 프로브들의 오프셋 조정은 두개의 도구와 연결된다 왜냐하면 링 도구가 이동했을때, 구체의 도구에서 조정된 프로브 오프셋이 링 도구에서 조정되었기 때문이다. 왜냐하면 접촉 프로브 팁이 링 도구를 사용해서 조정되었고, 스테이지에서 링 도구의 지점이 접촉 프로브 팁의 측정된 오프셋을 바탕으로 결정되었을때 링 도구가 이동했기 때문이다(또는 그것의 지점을 알수 없기 때문이다). 접촉 프로브 팁의 오프셋이 양쪽 도구의 스테이지 지점을 결정하는데 사용되었고 그런다음 비전 프로브 오프셋은 이들 도구중 하난의 스테이지 지점을 바탕으로 했다.
접촉 프로브 팁이 구체 도구에서 조정되었고 그런다음 비전 프로브 팁이 링에서 조정되었다면 두개의 프로브 팁은 상호 참조되지 않을 것이다. 접촉 프로브팁이 구체도구에서 조정되었고, 비전 프로브 팁이 링 도구에서 조정된다음, 접촉 프로브가 링 도구에서 조정되고, 두개의 프로브 팁들은 동일한 참조체계를 사용하게 될 것이다, 그러나 이것은 구체 도구 또는 이전에 구체 도구에서 조정된 프로브 팁들과 다른 참조 체계가 될 것이다. 왜냐하면 비전 프로브 팁은 그것(링 도구의 지점)이 이동했을때 링 도구의 지점을 결정하는데 사용되었지만, 비전 프로브 팁은 구체 도구에서 조정되지 않았기 때문이다. 접촉 팁의 참조 체계는 링 도구와 일치하기위해 변경되었다. 도구가 이동할때마다(또한 도구가 어디에 있는지 알수없다는것을 의미함 ) 도구를 위한 팁의 링크를 유지하기 위해, 방금 이동한 도구에서 사용된 조정 팁은 반드시 첫 도구의 참조 체계를 사용해야 한다.
링 게이지의 스타 팁 접촉 프로브의 하부 팁만을 조정할 수 있가. 구체 도구 또는 링 게이지를 가진 구체 도구는 프로브 스타 팁과 비전 프로브 간의 상호 참조를 제공하는데 사용될 수 있다. 일반적으로 이 상호 참조는 구체 도구에서 모든 접촉 프로브 스타 팁을 조정해서 완료될 수 있을 것이다. 도구가 이동된 링 도구에서 하부 팁을 조정한다. 그런다음 링 도구에서 비전 프로브를 조정한다. 그러면 구체 도구에서 접촉 팁들과 링 도구에서 비전 프로브 팁을 조정할 수 있다.