当您在具有资格球的模拟测头上执行盘式测尖的离散测点校准时，需要使用测量测头对话框并指定以下内容：
在测点数对话框里输入 5 个测点。
在层数框中键入 2 层。
这些设置不应用于使用基于 Renishaw 扫描的校准的测头。
请确保在定义测头时，模拟盘式测尖而非球式测尖。单击测量测头对话框中的测量按钮后，PC-DMIS 会自动识别您的模拟测头为盘式测尖，并继续此步骤：
移动校验球，或者选择 Man + DCC 模式后，PC-DMIS 将会提示你用盘形测头底部中心在校验球最高点上进行一次手动触测（北极点）。如果测头配置中有其他球形测头附着在盘形测头底部， 则确保用该球形测头采点。
如果没有移动校验球，也没有选择使用 Man + DCC 模式，PC-DMIS 将会在 DCC 模式下在标准工具的最高点上采点。
构建盘式测头时，PC-DMIS 使用这两个条目的默认值：
构建测头之后，条目就不再影响它。校准测头时使用的值存储在测头本身内。您可以从测头工具对话框更改这两个值。
为此，请按照下列步骤操作：
打开测头工具对话框（插入 | 硬件定义 | 测头）。
盘式测针的测头工具对话框
双击盘式测尖组件（在上图中突出显示）以显示编辑测头组件对话框。
盘式测针的编辑测头组件对话框
对于在磁盘底部测量平面复选框：
如果选中（ProbeQualAnalogDiskUsePlaneOnBottom 条目设置为 1），PC-DMIS 使用盘式测针底部的圆形图案在球体顶部采集四个测点，并从中计算一个平面。测量一个平面用来帮助确定校验的测点面对或校验方式的者正确的导向实际的盘形平面。该默认值适用于传统校验方法使用点触发。
如果未选中（ProbeQualAnalogDiskUsePlaneOnBottom 条目设置为 0），PC-DMIS 不会尝试测量磁盘面底部的平面。相应地使用盘形设计定位。这是雷尼绍扫描测头的默认校准方式。
您可以在平面测点到边缘的距离框（ProbeQualAnalogDiskBottomHitsDistanceFromEdge 条目）中键入一个值。您可以使用它来影响校准期间磁盘测针底部的测点位置。
PC-DMIS根据在DCC模式中完成的操作：
采完这个点之后在球体顶部采六个点两层来得到一个准确的球体的中心点。
它使用中心点以及沿着矢量在平面测量或者设计的方向来调整后续的测量位置的正确性。
对于离散的触测校准需要测量5点：4个点在赤道位置确定一个圆，第5点在顶部，或者球体的极点。
对于扫描校准需要测量一系列的扫描点在两层上，一条扫描线在赤道上，另一条略高于赤道。每个高度的扫描线都需要顺时针和逆时针两种方向。每个方向对于每层在扫描时同样需要两个不同的扫描力偏置。这个结果是八个扫描的总和。
PC-DMIS 还在 ProbeCal 部分的 PC-DMIS 设置编辑器中提供 ProbeQualAnalogDiskPlaneStartAngle 条目。这是另一个条目，您可以使用它来影响校准期间磁盘测针底部的测点位置。
有关此处讨论的任意条目的更多信息，请参见 PC-DMIS 设置编辑器文档中的 "ProbeCal" 部分。