在 PC-DMIS CMM 中，使用測頭工具箱可執行接觸測頭特定的各種測頭相關的操作。若要使用測頭工具箱對話方塊本身，則該對話方塊僅包含兩個標籤。檢視嵌入在自動特徵對話方塊中的工具箱時，會顯示其他幾個標籤。
使用「測頭工具箱」對話方塊
選取視圖 | 其他視窗 | 測頭工具箱。螢幕上出現測頭工具對話方塊：
用於接觸式測頭的測頭工具箱
完成所出現的兩個標籤上的屬性：
使用嵌入「自動特徵」對話方塊的測頭工具箱
打開自動特徵對話方塊。有關幫助，請參見「插入自動特徵」。
為要使用的測量策略選取自動特徵。
按一下 >> 按鈕。螢幕上將出現測量屬性區域、進階測量選項區域以及測頭工具箱（帶對話方塊下部的其他標籤）。
「自動特徵」對話方塊範例
本文件集中未討論測量屬性區域和進階測量選項區域中的各選項。由於其中許多選項對於 PC-DMIS 的不同設定係通用的，PC-DMIS 核心文件包含此資訊。如需這些區域中的選項之更多資訊，請參閱 PC-DMIS 核心文件中的「建立自動特徵」一章。
測頭工具箱顯示在對話方塊的下方，顯示 PC-DMIS 預設測量策略的標籤。自動特徵對話方塊中測頭相關標籤以及標準接觸式測頭的操作包括其他標籤。例如：
嵌入「自動特徵」對話方塊的測頭工具箱
完成標籤上的屬性。
定位測頭標籤 - 使用此標籤可在已設定的現有測頭與測頭測尖之間進行切換，檢視目前測頭位置，存取測頭讀數視窗，以及從測點緩衝區中移除探測的測點。
測量策略標籤 - 使用此標籤可載入特定類型自動特徵的不同內部策略，變更特徵的執行方式。
觸測目標標籤 - 使用此標籤可檢視測量此特徵以及每個測點的 XYZ 值所使用的測點。
特徵定位器標籤 – 使用此標籤可定義並檢視特徵位置說明。
接觸路徑屬性標籤 - 使用此標籤可修改影響測頭路徑的屬性，例如測點數、深度、每層的測點等。
接觸樣例測點屬性標籤 - 使用此標籤可修改樣例測點屬性。
接觸自動移動屬性標籤 - 使用此標籤可修改自動移動（或避免移動）的屬性。
接觸尋找孔屬性標籤 - 使用此標籤可修改尋找孔的屬性。