本文件介紹如何使用 PC-DMIS 影像測量 和光學測量系統來測量工件上的特徵。影像 測頭提供了為一個特徵收集多個測量點的途徑。這種非接觸的探測法亦可用於測量「平」型特徵。例如，一個電路板可以在主電路板上覆疊不同顏色。略過工件的接觸式測頭無法偵測此特徵。但您可以使用 影像 測頭「擷取」特徵。
您可以使用 PC-DMIS 影像測量在離線或線上模式準備測量常式。透過 CAD 相機功能可以其中任意一種模式運行此測量常式。此外，透過泛型 Metronics 介面可支援其他很多類型的測量機。安裝可能要求進行個人電腦硬體升級。
本文件中的主要主題包括：
另亦有這些附錄：
若遇到此處未涉及的軟體問題，可將本文件與 PC-DMIS 主文件結合使用。