第4步 - 准备校验
此步骤开始进行 LSPX1C / HR-X (HR-X1-P) 测头更换架的校验过程。
测头更换架的校验过程采用带 LSPX1C 或 LSPX1H 探针座的相应测尖。您亦可采用被定义为 LSPX1H_CAL_PROBECHANGER 或 LSPX1C_CAL_PROBECHANGER 的 5 x 20 mm 测尖。必须准确定义测头,这样测头更换架校验才能顺利进行。该测尖无需校验,但必须定义测座角度,以供校验。
开始校验过程:
选择测头更换架对话框(编辑 | 喜好设定 | 测头更换架)中的校验选项卡:
测头更换架对话框 - 校验选项卡
从活动测头更换架列表选择测头更换架 1:类型 = LSPX1C。
活动测头文件列表中的输入项默认为当前测量例程设置。若不是用于架校验的内容,则选择适当的测头。
活动测尖列表中的输入项默认为当前测量例程设置。若不是用于架校验的内容,则选择用于校验的测尖 ID。通常为 T1A0B0。
点击校验。
清空所有测头的端口。
当准备好进行第一次测量时,点击OK。
在下一步中,采集第一个手动测点。