若要打开测头更换架对话框中的校验选项卡，请选择编辑 | 首选项 | 测头更换架。
测头更换架对话框 - 校验选项卡
在开始进行校验前，请考虑以下内容：
通常情况下，用户需要延机器轴向找正更换架。但对于 TP20，TP200 和 SP600 的测头更换架，这不是必须的设置。对于这些测头的更换操作，依然需要找正更换架，但用户可以旋转更换架，使其方向不再沿测量机的轴向。
活动测头更换架
从清单中选择需要校验的单测头更换架。更多信息，请参阅“类型选项卡”。
活动测头文件
从清单中选择在校验过程中需要使用的测头。
活动测尖
从清单中选择与您所选的测头对应的测尖配置。
测头更换端口
该列表与单端口校验选项结合使用。您可以选择一个单端口进行校验。在定义支持校验端口的测头更换架后这些对话框的项目方可用。
完全校验
如果选择完全校验选项，PC-DMIS 将测量整个测头更换架。这是最常用的校验的方法，并且在某些情况下是唯一可用的方法。我们建议操作者使用完全校验方法。
部分校验
该选项仅校验部份测头更换架。仅有在测头更换架类型支持此选项时，此选项才会出现。
单测头架校验
某些测头更换架（如 ARC1）允许您成功校验测头后只测量一个端口。仅有在测头更换架的类型支持单端口校验选项时方显示该选项。
校验 按钮
在开始使用测头更换架前，须先执行适合的测头更换架校验程序，定义更换架的端口位置。以下主题讨论了一些测头更换架的校验程序。如果您的测头更换架类型与所讨论的不同，请使用 FCR25 测头更换架的校验过程作为指导。它应该类似于所有支持的类型。
校验 LSPX1 / HR-X (HR-X1-3P) 测头更换架
校验 LSPX1C / HR-X (HR-X1-P) 测头更换架
校验 LSPX1H / HR-X (HR-X1-P) 测头更换架