第4步 - 准备校验

此步骤开始进行 LSPX1H / HR-X (HR-X1-P) 测头更换架的校验过程。

测头更换架的校验过程采用带 LSPX1C 或 LSPX1H 探针座的相应测尖。您亦可采用被定义为 LSPX1H_CAL_PROBECHANGER 或 LSPX1C_CAL_PROBECHANGER 的 5 x 20 mm 测尖。必须准确定义测头，这样测头更换架校验才能顺利进行。该测尖无需校验，但必须定义测座角度，以供校验。

开始校验过程：

1. 选择测头更换架对话框（编辑 | 喜好设定 | 测头更换架）中的校验选项卡：

测头更换架对话框 - 校验选项卡

2. 从活动测头更换架列表选择测头更换架 1：类型 = LSPX1H。

3. 活动测头文件列表中的输入项默认为当前测量例程设置。若不是用于架校验的内容，则选择适当的测头。

4. 活动测尖列表中的输入项默认为当前测量例程设置。若不是用于架校验的内容，则选择用于校验的测尖 ID。通常为 T1A0B0。

5. 点击校验。

6. 清空所有测头的端口。

7. 当准备好进行第一次测量时，点击OK。

在下一步中，采集第一个手动测点。