测头工具箱 - CWS 参数选项卡
正确配置系统后，测头工具箱（视图 | 其他窗口 | 测头工具箱）中的 CWS 参数选项卡可用：
CWS必须配置为活动激光系统。通常这由原厂在安装初始化程序中预设或者由服务工程师完成。
系统正确配置后，您必须使用正确的属性来定义测头。通过测头实用工具对话框构造测头。您应使用 OPTIV_FIXED 选择以及含 CWS 的透镜。应在 USRPROBE.DAT 文件中对此进行定义。这也可由工厂在现场提供。
CWS 参数选项卡可以包含以下信息：
频率（测量速率）
测量速度设置 CWS 每单位时间内记录的测量值数量。例如，将测量速度设为 2000 Hz，每秒将记录 2000 个测量值。显示器上的亮度指示器可协助选择正确的设置。在表面反射率极低的情况下，需要降低测量速度。这样做会使光学传感器的 CCD 线照亮更长时间，即使反射强度非常低也能进行测量。
曝光时间和自动强度
在强度之下，可选择 LED 相对脉冲持续时间及光源有效强度。当测量曲面反射率更改时，自动强度选项十分有用。例如，如果正在测量具有高反射率的表面，使用最大测量速度仍会导致出现过调制，那么将自动强度设置为否并手动设置灯强度选项是合理的。
此外，也可使自动强度设置为是，并减少曝光时间。如果测量的曲面反射率较差，采用的测量速度也很快，那么增加脉冲持续时间或曝光时间可以完成测量。
每次对曝光时间作出更改之后，绝对需要使用深色参照物。请参见《CWS 装置操作手册》的相应章节！
偏置
最佳强度值可能出现在传感器范围的不同区域中，具体取决于表面的反射率和测量速度（频率）。
偏移设置移至传感器的最佳扫描区域。此偏移的输入为 + 或 – 值（单位：mm）。
1 - 距离（3mm 传感器的传感器范围）
2 - 偏置 = 0.000
3 - 偏置 = 0.500
显示更改偏置值的效果的图形
强度过滤
该值定义了噪声和测量信号之间的阈值。低于此阈值的峰值将被识别为无效，并在显示屏上显示为测量值 "0"。
筛选器（传感器强度）与“强度”之间无线性关系。例如，如果您将筛选器（传感器强度）设置为 = 50，这并不意味着将筛选出强度小于 50 的所有值。
对于低于 1 kHz 的测量速度，建议使用筛选器（传感器强度）最小值 40。这样可以防止测量值中强度过低，仅在噪音上略有上升，从而造假测量。测量速率为 1kHz 或更高时，最小值为 15 有利于完全发挥设备的动力。
焦点
自动对焦按钮 
读取当前 XYZ 机器位置和与 CWS 传感器之间的距离值。这些值计算焦点位置以及信号质量值，并将它们显示在四个焦点框中。
筛选模式注释
速度和频率参数定义传感器的点密度。如果要扫描，PC-DMIS 会根据空筛选器和点密度设置执行二次筛选。
色差白光传感器测头读数窗口
如果色差白光传感器 (CWS) 是活动传感器，测头读数窗口将显示 X、Y 和 Z 读数，以及以下参数：
强度 - 该读数的值是显示在圆形图内的百分比。99% 以上的值表示测量错误；例如，传感器可能超出检测范围。如果出现测量错误，图形的非灰色部分将变为红色。
距离 - 该读数的值是测量的目前单位（英寸或毫米）。值显示在圆形图内。如果距离值处于传感器范围上限或下限的 10% 以内，图形的非灰色部分将变为红色。
测头读出窗口显示过调制
为了显示这些读数，请勿选择 CWS 激光选项卡。选择后，读数不再发送到“测头读数”窗口。
有关“测头工具箱”上CWS参数选项卡的更多详细信息，请参阅PC-DMIS激光文档中的激光测头工具箱：CWS参数选项卡。
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