조정 구로 아날로그 프로브에서 디스크 스타일러스의 개별 접촉 조정을 수행할때, 프로브 측정 대화상자를 사용하고 다음을 지정해야한다:
접촉 수 상자에 5 접촉수
레벨 수 상자의 두 레벨
이들은 Renishaw 스캔-기반 조정을 사용하는 프로브를 위해 적용되지 않는다.
프로브를 정의할때, 볼 스타일러스가 아니고 디스크 스타일러스를 사용한다. 프로브를 측정 대화상자에서 측정 버튼을 클릭할때, PC-DMIS 는 디스크 스타일러스가 있는 아날로그 프로브를 가지고 있다는것을 자동으로 인식하고 다음의 절차를 수행한다:
구를 이동했다면, 또는 Man + DCC 모드를 선택했다면, PC-DMIS 는 디스크 스타일러스의 하부의 중앙으로 조정 구의 가장 상부에서 하나의 수동 접촉을 수행할것을 요청한다. 프로브 구성이 디스크 스타일러스의 하부에 연결된 추가의 볼 스타일러스를 가지고 있으면, 그 볼 스타일러스로 접촉을 수행하도록 한다.
구를 이동하지 않았고, Man + DCC 모드를 사용하지 않기로 했다면, PC-DMIS 는 DCC 모드로 조정 도구의 상부에서 접촉을 수행한다.
PC-DMIS 는 DCC 모드로 다음을 수행해서 끝낸다.
PC-DMIS 는 PC-DMIS 설정 편집기의 프로브 조정 부분에 위치한 ProbeQualAnalogDiskUsePlaneOnBottom 레지스트리 항목의 값을 기반으로 다음중 하나를 수행한다:
이 항목이 1 로 지정되면, PC-DMIS 는 디스크 스타일러스의 하부에서 원형 패턴을 사용해서 그리고 그것으로부터 평면을 계산해서 구체의 상부에서 네개의 접촉을 수행한다. 평면을 측정하는것은 디스크의 실제 평면을 보여주기 위해 면을 조정하기 위한 접촉이 올바르게 위치하는지를 확인하는데 도와준다. 이것은 개개의 접촉을 사용하는 초기 조정 방법의 초기설정이다.
이 항목이 0 으로 지정하면, PC-DMIS 는 디스크의 표면의 하부에서 평면을 측정하려고 하지 않는다. 대신 그것은 디스크의 디자인 방향을 사용한다. 이것은 Renishaw 스캔을 바탕으로 한 조정의 초기설정이다.
구의 상부에서 접촉이 수행된 후, 그것은 구의 중앙 지점에 더 가까운 위치를 얻기위해 두 레벨에서 여섯 접촉을 수행한다.
정확하게 다음 (차후)의 측정의 위치를 정하기 위해 평면 측정 또는 디자인 방향에서 온 벡터와 함께 중앙 지점을 사용한다.
개별 접촉 조정의 경우, 그것은 다섯 접촉(구의 적도 주위에서 원형 패턴으로 네 접촉, 또는 구의 상부 또는 극에서 다섯번째 접촉) 을 수행한다.
스캔을 기반 조정의 경우, 그것은 두가지 다른 레벨 (적도의 바로 아래와 적도의 바로 위) 에서 스캔의 시리즈를 수행한다. 각 레벨은 시계방향과 시계 반대 방향으로 스캔된다. 각 레벨의 각 방향은 두가지 다른 스캔 력 오프셋을 사용해서 또한 스캔된다. 이것은 총 여덟 스캔이 된다.
PC-DMIS 는 프로브 조정 부분에서 PC-DMIS 설정 편집기의 두 추가 레지스트리 항목을 또한 제공한다. 조정중에 디스크 스타일러스의 하부에서 접촉의 위치를 변경하기 위해 이들(레지스트리 항목) 을 사용할 수 있다. 이들 레지스트리 항목은 다음과 같다:
이들 레지스트리 항목의 상세 정보는 PC-DMIS 설정 편집기 문서의 "ProbeCal" 부분을 본다.