PC-DMIS 비전: 소개

이 문서는 부품의 특성들을 측정하기 위해 광학 측정 시스템과 함께 PC-DMIS 비전 사용 방법을 설명한다. 비전 프로브는 단독 특성을 위한 측정된 많은 지점을 수집하기 위한 방법을 제공한다. "평면" 특성의 특정 유형을 측정하기 위해 또한 이 비-접촉 프로브 방법을 사용할 수 있다. 예를들어, 회로 보드는 주요 회로 보드에 다른 컬러의 겹침을 가질 수 있다. 부품 위에서 스캔중인 접촉 프로브는 특성을 찾지 못할 것이다. 그러나, 특성을 "캡처"하기 위해 비전 프로브를 사용할 수 있다.

오프라인 또는 온라인 모드에서 측정 루틴을 준비하기 위해 PC-DMIS 비전을 사용할 수 있다. CAD 카메라 기능은 양쪽 모드로 이 측정 루틴을 실행할 능력을 준다. 추가로, 많은 다른 기계 유형들은 일반 Metronics 인터페이스를 사용해서 지원될 수 있다. 설치는 일부 개인용 컴퓨터 하드웨어 업그레이드가 필요할 수 있다.

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