通过将校对环规或类似尺寸的塞上的扫描与位于 CMM 上同一位置的扫描进行对比，计量扫描筛选器可用于以最高精度测量圆和圆柱的形状。您可使用此筛选器测量生产环和生产塞以及零件上形状公差非常小的圆形特征。
自动圆的量规扫描校准策略校准与量规扫描筛选器一起使用的测头测尖。计量扫描校准数据存储在测头文件中。自适应圆扫描和自适应圆柱同心圆扫描策略提供计量扫描筛选器。
若再次校准测头测尖，PC-DMIS 将检测量规扫描校准数据。将需要再次执行量规扫描校准。
量规扫描筛选器选项位于编辑测头数据对话框（插入 | 硬件定义 | 测头 | 编辑按钮）。每个测头测尖的的量规扫描筛选器选项指示计量扫描校准数据是否可用。有关此选项的信息，请参见概要：简介 PC-DMIS 核心文档中“定义硬件”一章中的“量规扫描筛选器”。
为获得最佳结果：
使用计量扫描校准来校准带环规的测头测尖，以准确测量内孔。
使用计量扫描校准来校准带塞规的测头测尖，以准确测量外孔。
使用计量扫描校准来校准使用环规或塞规（直径尽量接近需要准确检查的零件）的测头测尖。
为获得最高的精度，您需将环规或塞规放在 CMM 上与待检查的零件相同的位置。
如果对计量扫描校准使用软件补偿选项，您可以通过以下方法提高精度：定义特征的点密度（采样频率）来测量与计量校准中所用的点密度最接近的值。由于计量扫描筛选器在频率范围内应用，在计量的点密度与特征扫描的点密度之间实现更大的相似性将导致更有效的校正。
策略的选项卡位于自动特征对话框（插入 | 特征 | 自动 | 圆）中的测头工具箱中：