测头工具箱 - CWS 参数选项卡
正确配置系统后，测头工具箱（视图 | 其他窗口 | 测头工具箱）中的 CWS 参数选项卡可用：
您必须将CWS配置为活动激光系统。通常，工厂在启动过程中在本地完成或由服务工程师完成。
配置系统后，接下来您必须使用正确的属性来定义测头。您可以在测头工具对话框中构建测头。您应使用 OPTIV_FIXED 选择以及含 CWS 的透镜。如果工厂没有提供，您应该在USRPROBE.DAT文件中定义它。
CWS 参数选项卡可以包含以下信息：
频率（测量速率）
测量速率设置每时间单位光学传感器记录的测量值数目。例如，如果测量速率设置为2000 Hz，每秒钟将采2000测量值。显示器上的亮度指示器可协助选择正确的设置。
设置范围
通常的做法是，您使用尽可能高的测量速率进行测量，在尽量短的时间内获得尽量多的测量值。在曲面的反射性非常低的情况下，可能需要降低测量速率。这将使得光学传感器的 CCD 线感光更长，即使在反射强度很低的情况下也可以实施测量。
对于在高反射曲面以小测量速率进行扫描，CCD线出现的过调制现象会导致测量错误。如果CWS控制器盒上的强度指示器显示闪烁,,Int: 999"，或测头读数窗口以红色显示强度值为100％或接近100％，则发生过调制。
测头读出窗口显示过调制
过调现象出现时，请选择更高测量速率。如果已设置最大测量速率（CHRocodileS为2000 Hz，CHR150E为1000 Hz），则可以通过以下两种方式之一降低反射强度：
将传感头定位在测量范围的上限或下限。
使用autoadaptfunction（其中自动强度参数设置为开）。这可以根据零件反射不断调整灯的强度。此处未使用深色参考物。PC-DMIS 支持此方法。
曝光时间（亮度值）
如果自动强度参数设置为开，您可以在此处选择曝光时间（亮度值）。
调制灯的亮度，使您达到调制幅度的确定百分比。值可以位于0%到75%的范围内。对于大部分应用，建议使用20%到40%之间的亮度值。
自动亮度
此值可定义 LED 相对脉冲持续时间及光源有效强度。
如果您正在测量高反射表面，其中最高测量速率仍然会导致过调制，那么减少曝光时间是有意义的。
测量具有高测量速率的低反射表面的最佳方法是使用更长的脉冲持续时间。
自动强度：关
关闭自动强度按钮（
）以使用LED的当前光强度。
自动强度：开
将自动强度按钮设置为“开”时，在曝光时间内独立调整LED的闪光时间，可以在可变表面上进行测量时自动获得最佳强度设置。这也允许最佳的信噪比。
系统调制灯的亮度以实现调制幅度的限定百分比。值可以位于0%到75%的范围内。对于大部分应用，建议使用20%到40%之间的亮度值。
偏置
这是除了测量位置之外测量机在测量方向上移动的偏移距离。
强度过滤
该值定义了噪声和测量信号之间的阈值。软件将低于此阈值的峰值识别为无效，并在显示屏上显示为测量值“0”。
对于有效测量，强度应在CHRocodileS上介于0到999之间，或在CHR150E上介于0到99之间；否则，您必须更改测量速率。
如果测量到反射率低的表面的距离，则反射光的强度可能太低，您必须降低测量速率。对于1 kHz以下的测量速率，CHRocodileS上的阈值应为40或CHR150E上的阈值应为25。这样可以防止测量值中强度过低，仅在噪音上略有上升，从而造假测量。
测量速率为1 kHz或更高（仅适用于CHRocodileS），阈值15最适合充分利用设备的动态。
焦点
本节包含四个框，分别表示X、Y、Z和信号质量。单击右侧的自动聚焦按钮 
执行聚焦或曲面测量以显示X、Y、Z和信号质量值。
有关详细信息，请参阅PC-DMIS影像文档中的“CWS参数”。