测头工具箱 - CWS 参数选项卡
正确配置系统后,测头工具箱(视图 | 其他窗口 | 测头工具箱)中的 CWS 参数选项卡可用:
CWS必须配置为活动激光系统。通常这由原厂在安装初始化程序中预设或者由服务工程师完成。
系统正确配置后,您必须使用正确的属性来定义测头。通过测头实用工具对话框构造测头。您应使用 OPTIV_FIXED 选择以及含 CWS 的透镜。应在 USRPROBE.DAT 文件中对此进行定义。这也可由工厂在现场提供。
CWS 参数选项卡可以包含以下信息:
频率(测量速率)
测量速度设置 CWS 每单位时间内记录的测量值数量。例如,将测量速度设为 2000 Hz,每秒将记录 2000 个测量值。显示器上的亮度指示器可协助选择正确的设置。在表面反射率极低的情况下,需要降低测量速度。这样做会使光学传感器的 CCD 线照亮更长时间,即使反射强度非常低也能进行测量。
如果输入的频率不在有效频率值范围内,则 PC-DMIS 将显示一条消息更正输入内容,并告知您最接近的有效频率值。
PC-DMIS
无效频率:3Hz
请使用有效频率。最接近的有效频率是 32Hz。
如果输入的频率无效,但在有效频率值的范围内(例如,它不包括在有效频率列表中),PC-DMIS 将显示一条消息更正该输入。该消息还会告知您输入值上下的下一个有效频率值。
PC-DMIS
无效频率:300Hz
请使用有效频率。最接近的有效频率是 100Hz 和 320Hz。
软件在执行时还会检查无效的 CWS 频率。如果您在软件请求后没有更正无效值,则 PC-DMIS 会在“执行”窗口中显示一条消息,其中包含无效的频率值。
执行
无效频率:300Hz
PC-DMIS 将不允许您继续执行测量例程。此时唯一的选择是停止执行并输入有效的频率值。
将变量分配给 CWS 频率时,也会发生相同的情况。如果它包含无效值,则 PC-DMIS 会发出如上所述的适当消息。
在具有可变输入或数字值的特征上按 F9 时,PC-DMIS 将打开“测头工具箱”。在此工具箱中,您可以从列表中选择支持的频率。如果该值存储在分配给 CWS 频率的变量中,则当您从列表中选择有效值时,PC-DMIS 会使用新值更新该变量。
曝光时间和自动强度
在强度之下,可选择 LED 相对脉冲持续时间及光源有效强度。当测量曲面反射率更改时,自动强度选项十分有用。例如,如果正在测量具有高反射率的表面,使用最大测量速度仍会导致出现过调制,那么将自动强度设置为否并手动设置灯强度选项是合理的。
此外,也可使自动强度设置为是,并减少曝光时间。要以高测量速率测量反射不良的曲面,请使用更长的脉冲持续时间或更长的曝光时间。
每次对曝光时间作出更改之后,绝对需要使用深色参照物。请参见《CWS 装置操作手册》的相应章节!
偏置
最佳强度值可能出现在传感器范围的不同区域中,具体取决于表面的反射率和测量速度(频率)。
偏移设置移至传感器的最佳扫描区域。此偏移的输入为 + 或 – 值(单位:mm)。
1 - 距离(3mm 传感器的传感器范围)
2 - 偏置 = 0.000
3 - 偏置 = 0.500
显示更改偏置值的效果的图形
强度过滤
该值定义了噪声和测量信号之间的阈值。低于此阈值的峰值将被识别为无效,并在显示屏上显示为测量值 "0"。
筛选器(传感器强度)与“强度”之间无线性关系。例如,如果您将筛选器(传感器强度)设置为 = 50,这并不意味着将筛选出强度小于 50 的所有值。
对于低于 1 kHz 的测量速率,建议使用筛选器(传感器强度)最小值 40。这样可以防止测量值中强度过低,仅在噪音上略有上升,从而造假测量。测量速率为 1kHz 或更高时,最小值为 15 有利于完全发挥设备的动力。
焦点
自动对焦按钮 读取当前 XYZ 机器位置和与 CWS 传感器之间的距离值。这些值计算焦点位置以及信号质量值,并将它们显示在四个焦点框中。
筛选模式注释
速度和频率参数定义传感器的点密度。如果要扫描,PC-DMIS 会根据空筛选器和点密度设置执行二次筛选。
色差白光传感器测头读数窗口
如果色差白光传感器 (CWS) 是活动传感器,测头读数窗口将显示 X、Y 和 Z 读数,以及以下参数:
强度 - 该读数的值是显示在圆形图内的百分比。99% 以上的值表示测量错误;例如,传感器可能超出检测范围。如果出现测量错误,图形的非灰色部分将变为红色。
距离 - 该读数的值是测量的目前单位(英寸或毫米)。值显示在圆形图内。如果距离值处于传感器范围上限或下限的 10% 以内,图形的非灰色部分将变为红色。
测头读出窗口显示过调制
为了显示这些读数,请勿选择 CWS 激光选项卡。选择后,读数不再发送到“测头读数”窗口。
有关“测头工具箱”上CWS参数选项卡的更多详细信息,请参阅PC-DMIS激光文档中的激光测头工具箱:CWS参数选项卡。
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