プローブツールボックスから、測定方策タブ（
）を選択します。最初にPC-DMISはデフォルトのPC-DMIS測定方策を表示します。
ユーザーは特定の自動要素に対する測定方策を使用して、PC-DMISがそれらの要素を測定する方法を変更する定義済みスキームを選択することができます。測定方策は下記のようにグループ分けされます。
デフォルトのPC- DMIS測定方策 - この方策はデフォルトのタッチ点方策です。それはすべての自動要素で使用できます。
アダプティブスキャン方策 - これらの方策名は「アダプティブ」で始まります。測定プログラム実行時に、これらの方策はデータベースを参照してスキャンパラメータを決定します。
非アダプティブスキャン方策 - これらの方策 (ゲージスキャン校正、円筒センタリングスレッドスキャンおよびセルセンタリング点) はデータベースを参照してスキャンパラメータを決定する必要はありません。
TTP方策 - これらの方策の名前は「TTP」で始まります。これらの方策では、タッチ トリガ プローブを使用して要素を測定します。
すべての測定方策での結果を最良にするために、PC-DMIS設定エディタはVHSSを有効にする必要があります。
測定方法エディタ（MSE）機能を使用して、特定の方法を変更することもできます。MSEを使用すると、カスタム方法を要素レベルで変更して保存できます。さらに、すべての自動要素の設定のグループを変更して保存することができます。MSEについて詳しくは、PC-DMISコアドキュメントの「測定方策エディタの使用」を参照してください。
測定方策を選択するには下記を実行します。
プローブツールボックスから、測定方策タブ（）を選択します。最初にPC-DMISはデフォルトのPC-DMIS測定方策を表示します。
ドロップダウン矢印アイコンをクリックし、使用したい測定方策を選択します。プローブツールボックスタブが所定の方策に適用するタブのみを表示するように変更されます。例えば、アダプティブ円スキャン (スキャンプローブに対して使用できます) 方策は下記のように表示されます。
プローブ ツールボックスのタブ実例
方式に関するすべての既知情報を使って、測定方式タブにあるプロパティに記入します（例えば、設定、詳細およびフィルタ）。
アダプティブスキャン方策のプロパティを完成させるには、「アダプティブスキャン方策の使用」を参照してください。
非アダプティブスキャン方策のプロパティを完成させるには、「非アダプティブスキャン方策の使用」を参照してください。
TTPスキャン方策のプロパティを完了するには、「TTP方策の使用」を参照してください。
要素を試験するには試験をクリックします。
デフォルトのPC- DMIS測定方策では、PC-DMISは自動要素ダイアログボックスで指定した設定に応じて要素を測定します。
アダプティブスキャン測定方策では、PC-DMISは方策タブで指定したパラメータに従って要素をスキャンします。
非アダプティブスキャン測定方策では、PC-DMISは方策タブで指定された設定に従って要素をスキャンします。
TTP方策では、PC-DMISは方策タブでユーザーが指定した設定に従ってタッチ点で要素をスキャンします。
作成をクリックして下さい。要素プロパティエリアにある今測定ボタン(
)を選択した場合、プローブは要素位置およびその他の特性に関する自動要素のプロパティを使用して、詳細タブで指定される設定に従って移動します。
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