프로브 도구상자 에서, 측정 방법 탭을 선택한다 (
). 처음에, PC-DMIS 는 기본 PC-DMIS 측정 방법 을 보여준다.
PC-DMIS 가 그 특성을 측정하는 방법을 변경하는 사전 정의된 계획을 선택하기 위해 특정 자동 특성을 위한 측정 방법을 사용할 수 있다. 측정 방법은 다음과 같이 그룹화된다:
기본 PC-DMIS 측정 방법 - 이 방법은 기본 접촉 지점 방법이다. 모든 자동 특성을 위해 사용할 수 있다.
조정 스캔 방법 - 이들 방법의 이름은 "적응" 으로 시작한다. 측정 루틴을 실행할때, 이 방법은 스캔 매개변수를 결정하기 위해 데이타베이스를 참조한다.
비 조정 스캔 방법 - 이들 방법 (게이지 스캔 조정, 원기둥 중앙 나선 스캔, 그리고 자체 중심점) 은 스캔 매개변수를 결정하기 위해 데이타베이스를 참조할 필요가 없다.
TTP 방법 - 이들 방법의 이름은 "TTP" 로 시작한다. 이들 방법은 특성을 측정하기 위해 접촉 트리거 프로브를 사용한다.
모든 측정 방법을 위한 최상의 결과는, PC-DMIS 설정 편집기가 활성화된 VHSS 를 가지고 있어야한다.
특정 방법을 수정하기위해 측정 방법 편집기(MSE) 기능을 사용할 수 있다. MSE 로, 특성 레벨에서 사용자 정의 방법을 수정하고 저장할 수 있다. 또한, 모든 자동 특성에 대한 설정 그룹을 수정하고 저장할 수 있다. MSE 에 대한 상세 정보는, PC-DMIS 핵심 문서에서 "측정 방법 편집기 사용" 을 참조한다.
측정 방법을 선택하기 위해, 다음을 수행한다:
프로브 도구상자 에서, 측정 방법 탭을 선택한다 (). 처음에, PC-DMIS 는 기본 PC-DMIS 측정 방법 을 보여준다.
아래 화살표 아이콘을 클릭한다음 사용하고자하는 측정 방법을 선택한다. 프로브 도구상자 탭은 그 방법에 적용하는 탭만을 보여주기 위해 변경된다. 예를들어, 조정 원 스캔 (스캔 프로브가 사용 가능) 방법은 다음과 같다:
샘플 프로브 도구상자 탭
방법에 대한 모든 알려진 정보로 측정 방법의 탭 (설정, 상급, 필터 기타)의 속성을 완료한다.
조정 스캔 방법을 위한 속성을 완료하기 위해, "조정 스캔 방법 사용" 을 본다.
비 조정 방법을 위한 속성을 완료하기 위해, "비 조정 스캔 방법 사용" 을 본다.
TTP 방법을 위한 속성을 완료하기 위해, "TTP 속성 사용하기" 을 본다.
특성을 테스트하기 위해, 테스트 를 클릭한다.
기본 PC-DMIS 측정 방법의 경우, PC-DMIS 는 자동 특성 대화상자에서 지정한 설정에 따라 특성을 측정한다.
조정 스캔 측정 방법의 경우, PC-DMIS 는 방법의 탭에서 지정한 매개변수에 따라 특성을 스캔한다.
비 조정 스캔 방법의 경우, PC-DMIS 는 방법의 탭에서 지정한 설정에 따라 특성을 측정한다.
TTP 조정의 경우, PC-DMIS 는 방법의 탭에서 지정한 설정에 따라 접촉 지점으로 특성을 측정한다.
만들기를 클릭한다. 특성 속성 영역의 지금 측정 버튼 (
)이 선택되면, 프로브는 특성 위치와 다른 특성을 위한 자동 특성의 속성을 사용해서 상급 탭에서 지정된 설정에 따라 이동한다.
그외: