Utilisation de stratégies de mesure

Vous pouvez utiliser des stratégies de mesure pour des éléments automatiques spécifiques afin de sélectionner des schémas prédéfinis changeant la façon dont PC-DMIS mesure ces éléments. Les stratégies de mesure sont groupées de cette façon :

Pour de meilleurs résultats pour toutes les stratégies de mesure, l'éditeur de réglages PC-DMIS doit avoir VHSS activé.

Vous pouvez aussi utiliser l'éditeur de stratégie de mesure (MSE) pour modifier des stratégies. Le MSE vous permet de modifier et stocker des stratégies personnalisées au niveau d'un élément. Vous pouvez par ailleurs modifier et stocker des groupes de réglages pour tous les éléments automatiques. Pour plus d'informations sur le MSE, voir « Utilisation de l'éditeur de stratégie de mesure » dans la documentation de PC-DMIS Core

Pour sélectionner une stratégie de mesure, procédez comme suit :

  1. Dans Boîte à outils palpeur, sélectionnez l'onglet Stratégies de mesure (Onglet stratégies de mesure). Au départ, PC-DMIS affiche la Stratégie de mesure de PC-DMIS par défaut.

  2. Cliquez sur la flèche déroulante et sélectionnez la stratégie de mesure à utiliser. Les onglets de la boîte à outils palpeur changent et il ne reste que ceux qui s'appliquent à cette stratégie. Par exemple, une stratégie de scanning adaptatif de cercle (accessible aux palpeurs de scanning) ressemble à ceci :

  3. Exemple d'onglets de boîte à outils palpeur

    Exemple d'onglets de boîte à outils palpeur

  4. Renseignez les propriétés sur les onglets de stratégie de mesure (Configuration, Avancé, Filtres, etc.) avec toutes les informations connues sur la stratégie.

  5. Cliquez sur Tester pour tester l'élément.

  6. Cliquez sur Créer. Si vous cliquez sur le bouton Mesurer maintenant (Icône Mesurer maintenant) dans la zone Propriétés éléments, le palpeur se déplace en fonction des réglages indiqués dans l'onglet Avancé avec les propriétés de l'élément automatique pour l'emplacement de l'élément et d'autres caractéristiques.

Rubriques associées :

Mesure d'éléments : Introduction