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使用非自適應掃描策略
非自適應掃描策略及其標籤位於
測頭工具箱
中的
測量策略
標籤中。這些策略包括:
標準塊掃描校準
圓柱置中螺紋掃描
自置中點
有關選取和使用測量策略的完整資訊,請參閱「
使用測量策略
」。