自适应平面线扫描策略

平面自动特征的自适应平面线扫描策略通过沿直线进行扫描来测量平面。

策略的选项卡位于自动特征对话框（插入 | 特征 | 自动 | 平面）中的测头工具箱中：

• 设置选项卡

• 筛选器选项卡

• 高级选项卡

有关测头工具箱和选择测量策略的完整信息，请参见“使用测量策略”。