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通过在圆形路径中生成测点,平面自动特征的接触触发测头 (TTP) 平面圆策略可测量平面。顾名思义,此策略取一个测点。接触触发测头和扫描测头可使用此策略。
此策略的优点是能按照您在策略选项卡上指定的标准生成测点路径。您可添加移动点,避免路径中出现障碍。
策略的选项卡位于自动特征对话框(插入 | 特征 | 自动 | 平面)中的测头工具箱中:
设置选项卡
路径定义选项卡
选择测点选项卡
扫描/测点路径选项卡
有关测头工具箱和选择测量策略的完整信息,请参见“使用测量策略”。