“操作区域类型”中讨论的一种更新，更简单的校准 ScanRDV 方法也可使用。
校准基于接触的模拟扫描测头时，测定的测尖大小可能因标称测尖大小而异。这取决于测量机的类型以及选定的校准方法的类型。在某些类型的测量机上，可能会计算此偏差并作为独立于标称大小的径向偏差传送给测量机控制器。在这些测量机上，此偏差对校准数据的采集方法十分敏感，尤其是就是使用离散测点还是扫描而言。有时，这会导致在校准后测量过程中出现明显的大小差异。这取决于指定特征是否使用离散测点或扫描测量。
要解决该差异，某些测量机控制器（即当前使用 Leitz 接口的测量机）已进行了增强，以支持使用离散测点测量 (PRBRDV) 和扫描测量 (SCNRDV) 的独立偏差。要支持此功能，您可在 PC-DMIS 中使用如下程序，在完成常规校准后更新 SCNRDV。
程序概览：要执行此操作，扫描一个已知尺寸的校准检具。通常您要围绕校准球大圆或环规内部扫描一个或多个圆。从这些扫描构造一个圆特征，然后使用“活动测尖列表”命令更新测尖的校准数据。
校验过程
执行传统的测尖校准。此操作将计算常见参数，如测尖偏置和偏转系数，并将 PRBRDV 与 SCANRDV 设为得出的偏差。您可使用预备的独立校准测量例程，或在步骤 2 中使用的同一个测量例程的前面部分，或是交互地在某个位置（通过访问测头工具对话框并使用测量按钮）执行测尖校准。请参见“校准测尖”。
创建测量例程的操作如下：
测量一个已知尺寸的校准制品的一次或多次扫描。这通常是一个普通的基本圆扫描，会测量校准球的赤道或环规内的内测。该制品不必定义为PC-DMIS内部的校准工具。更多信息，参见“执行圆基本扫描”。
引用所需扫描的最佳拟合重新补偿 (BF Recomp) 的构造圆特征。更多信息，请参见 PC-DMIS 核心文档中“从已有特征中构建新特征”的“构造圆特征”一章。SCNRDV 计算当前不支持其他构造圆类型或非圆特征。
构建特征的理论尺寸必须与校准制品正确匹配。另外，您必须在构建的圆的输入参数中为测量的制品指明理论半径。构建圆的理论和测量尺寸的差异将会是建立SCNRDV值的基础。
执行上一步中所述的测量程序。此操作将根据构造圆的理论大小与测量大小的差异更新 SCNRDV，同时测尖偏置和 PRBRDV 保持不变。
在执行扫描进行校准时，测量例程中必须存在最佳拟合重新补偿圆和步骤 2 中描述的“校准单测尖”命令，这是因为二者影响扫描在测量机上的执行方式。
校准测量例程示例的一部分
SCN_FORCAL =BASICSCAN/CIRCLE,NUMBER OF HITS=54,SHOW HITS=NO,SHOWALLPARAMS=NO
终止扫描
CIR_PRECAL=FEAT/CIRCLE,CARTESIAN,IN,LEAST_SQR,YES
THEO/<0,0,5>,<1,0,0>,50
ACTL/<-0.0007,-0.0007,-0.0001>,<0,0,1>,49.9967
CONSTR/CIRCLE,BFRE,SCN_FORCAL,,
删除超差点/关，3
FILTER/OFF,UPR=0
CALIBRATE ACTIVE TIP WITH FEAT_ID=CIR_PRECAL
在上述例子中，在一个50mm的环规内测执行了一个单独的圆扫描，构建出的圆特征从中创建，然后使用了校准活动测尖命令更新了该活动测尖的SCNRDV值。如果被执行的特定测量合适，构建的圆将会有不止一次的扫描作为输入。
在一些情况下，可以通过包含一次顺时针扫描和一次逆时针扫描获得更好的平均值。
手工编辑SCNRDV
要查看或手动编辑 SCNRDV，可在测头工具对话框中选择所需的测尖，并单击编辑按钮。屏幕上将显示编辑测头数据对话框，其中 PrbRdv 框包含有以逗点分隔的 PRBRDV 和 SCNRDV 的值，比如：
Renishaw SP25扫描测头
以上程序主要针对最初采用离散测点校准的传统仿真扫描测头。由于使用离散测点校准测头，使用离散测点进行的后续测量通常可获得良好结果。但是，有时需进一步进行调整，以获得更加适用于基于扫描的测量的 SCNRDV。
对于 Renishaw SP25 扫描测头而言，情况于此相反，因为初始（完整）校准是采用一系列扫描执行的。有时这样的校准结果就是，尽管扫描测量是可以，但在使用离散测点测量时可能存在大小差异。
为了定位这个问题，可以对SP25的“部分”校准步骤做一些修改。该部分使用离散触测并更新测尖的位移和尺寸，而不会修改基于完全扫描的校准产生的倾斜系数。在这个修改中，当更新尺寸的结果时，部分校准步骤现在会更新PRBRDV，而不会修改SCNRDV值。
若执行完整校准后进行部分校准，所得到的 PRBRDV 将来自于离散测点的部分校准。而 SCNRDV 仍将来自于完整扫描校准。
尽管看起来一开始的对SP25的基于扫描的校准有些没有必要；如果必要，新的SCNRDV步骤可以用于SP 25，就像用于其他模拟扫描测头。