扫描:简介

通过 PC-DMIS 和 CMM 测量机,您可以使用 TTP(接触触发测头)在 DCC(直接计算机控制)模式下以指定增量扫描零件曲面。另外,如果您在手动模式下操作,应同时使用接触触发测头或硬测头执行手动扫描。

关于接触触发测头 (TTP) 扫描

DCC TTP 扫描也称为“缝合式”扫描,因为它类似于探针上下移动以接触零件表面的缝纫机的缝合动作。DCC TTP 扫描由 PC-DMIS 和 CMM 控制器驱动。提供了一个智能,自我调整的算法,能够计算曲面法向矢量用于准确的测头补偿。

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关于连续接触扫描

PC-DMIS 会将扫描参数发送给控制器。这种类型的扫描测头保持与零件表面的连续接触。PC-DMIS 将扫描参数发送到控制器。基于选择的参数,控制器将扫描零件并将扫描点通知给 PC-DMIS。连续接触扫描通常会快速产生大量的点数据。

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可用扫描类型

这些不同的扫描方法在数字化零件曲面上的轮廓方面很有用。

片区扫描的示例曲面图

若要扫描零件的特征和曲面,PC-DMIS 会为您提供这些扫描类型:基础扫描、高级扫描和手动扫描

本章主要介绍插入 | 扫描子菜单中的可用选项:

有关扫描选项的详细信息,请参见 PC-DMIS Core 文档“扫描您的零件”一章。