高级扫描是由接触式触发测头 (TTP) 执行的 DCC 缝合式扫描。PC-DMIS 和 CMM 控制器驱动这些扫描。DCC 扫描程序使用智能型、自适应算法，此算法可计算精确测头补偿的曲面常规矢量。
这些高级扫描利用 TTP，允许曲面上配置文件的自动点对点数字化操作。为 DCC 扫描指定必要的参数，并选择测量按钮。PC-DMIS 中的扫描算法将控制测量过程。
PC-DMIS 支持以下高级扫描：
有关用于执行这些扫描的扫描对话框内可用选项的信息，请参见 PC-DMIS 核心文档中的“扫描对话框的常用功能”一章。