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带有激光传感器相关选项卡的测头工具箱
每个测头工具箱选项卡上的可用选项取决于为系统配置的传感器。因此，激光文档的此部分中的个别测头工具箱图像和相关描述可能不匹配。
查看 | 其他窗口 | 测头工具箱显示测头工具箱。测头工具箱包含不同的激光传感器参数，可用于采集测量例程所需的数据点。
您的LMS许可或端口锁必须包含激光选项，且必须使用支持的激光传感器方可访问测头工具箱中与激光相关的选项卡。
测头工具箱在以下选项卡中包含激光参数：
用于便携配置
激光扫描属性 *^+!
激光过滤属性 *+!
激光像素定位器属性 *
特征提取 ^!
用于 CMM 配置
测头定位
激光扫描属性
激光过滤属性
激光像素定位器 CG 属性
激光剪辑区域属性
特征抽取
激光 AF 多项创建
如上列表显示了所有可能测头工具箱选项卡。这些选项卡是否可用，要由系统上使用的传感器确定。若某个选项卡的功能不适用您的特定传感器，则该选项卡不可用。
* 对于 Perceptron 测头，在自动特征对话框关闭时，这些选项卡可见。
^ 对于 Perceptron 测头，在自动特征对话框打开时，这些选项卡可见。
+ 对于 CMS 测头，在自动特征对话框关闭时，这些选项卡可见。
! 对于CMS 测头，在自动特征对话框打开时，这些选项卡可见。
