Du kan använda ESF-kommandot om du vill skapa funktioner för de mätprinciper som stöds av analysprogram (Messtechnik-Applikation, eller MTA). Dessa mätprinciper är en undergrupp bland de tillgängliga mätprinciperna. I tabellen nedan visas element som stöds i PC-DMIS.
Mätprincip |
Typ |
Element som stöds: |
|---|---|---|
Punkt |
Taktil och optisk | AA, AC |
Kontur |
Formpunkter |
BA |
Högsta punkt |
BF, BH, BM, BN, BP |
|
Trim |
BK |
|
Optisk |
BA, BD, BF, BK, BH, BM, BN, BP |
|
Inv. |
På en plan yta med stansning vinkelrätt mot ytan |
CA, DG, EG, GA, HA, IG |
På en plan yta med stansning som inte är vinkelrät mot ytan |
CB, DH, EH, GB, HB, IH |
|
På en krökt yta |
CD, DI, EI, GD, HD, II |
|
Optisk och optisk NM |
CA, DG, EG, GA, HA, IG, CB, DH, EH, GB, HB, IH |
|
Standarddetalj |
Kan mätas |
LA, LB, LC, LD |
Kan inte mätas |
LE, LF, LG |
|
Optisk |
LA, LB, LC, LD, LE, LF, LG, LH |
|
| Flush | Optisk | NA |
| Spel | Optisk | MA, MB, MC, MD |
Mer: