本文档介绍如何使用 PC-DMIS 影像测量 和光学测量系统来测量零件上的特征。影像测头提供了为一个特征收集多个测量点的途径。您也可以使用这种非接触的触测法测量“平”型特征。例如，一个电路板可以在主电路板上重叠不同颜色。跳过零件的接触测头无法检测此特征。但使用影像测头可“捕获”特征。
您可以使用 PC-DMIS 影像测量在离线或在线模式准备测量例程。通过 CAD 相机功能可以其中任意一种模式运行此测量例程。此外，许多其他的机器类型可以使用一般Metronics接口支持。安装可能需要一些个人电脑硬件的升级。
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