PC-DMIS 激光测量: 简介

本文件介绍了如何使用 PC-DMIS 和激光传感器来测量零件上的特征或收集数据。使用激光传感器可在一个或多个点云 (COP) 中收集数百万个数据点。然后PC-DMIS使用这些点云来进行曲面轮廓映射、导出至逆向工程包,以及创建构造特征和自动特征。本文档讨论了如何将PC-DMIS与非接触式激光传感器一起使用来收集和解释这些点云。

PC-DMIS Laser 支持这些硬件配置:

可在 DCC 和可携式测量机上使用 CMS108

本帮助文档的主要主题如下:

若遇到此文件未涉及的软件问题,参见 PC-DMIS 核心主文档。