高度なスキャンは、タッチトリガープローブ(TTP)によって実行されるDCCステッチ式スキャンです。これらのスキャンは、PC-DMISおよびCMMコントローラによって制御されます。DCCスキャンの処理では、プローブを正確に補正するため、高度な自動調整アルゴリズムを使用して面の法線ベクトルが計算されます。
これらの高度なスキャンではTTPを使用するので、面の縦断面の各点を自動的に数値化することができます。DCCのスキャンに必要なパラメータを指定し、測定ボタンを選択します。PC-DMISのスキャンアルゴリズムが測定プロセスを制御します。
PC-DMISは、次のような高度なスキャンを支援しています:
スキャンダイアログ ボックスで（これらのスキャンを実行する際に使用するダイアログ ボックス）使用できるオプションについての情報は、PC-DMIS Coreマニュアルの「スキャン ダイアログ ボックスの共通機能」章を参照してください。